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可視・近赤外分光放射計 ASD FieldSpec
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Claisseシリーズ
Claisse LeNeo
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CNA Pentos
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X線結晶方位測定装置 Crystal Orientation 製品
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XRD - OEM
X線結晶方位測定装置 DDCOM
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X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ
Empyrean Alpha 1
Empyrean Nanoエディション
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高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ
Epsilon 4
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卓上蛍光X線分析装置 イプシロン1
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インシテック 湿式
インシテック スプレー
レーザー回折式粒子径分布測定装置 マスターサイザー製品
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レーザー回折式粒子径分布測定装置 マスターサイザー 3000+ Lab
MicroCal ITC
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全自動、画像式粒度分布測定装置モフォロギシリーズ
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モフォロギ 4
ナノサイトシリーズ
NanoSight Pro
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Accessories
サポート
Parsum シリーズ
Parsum IPP 70-S
Parsum IPP 70-SE
Parsum IPP 80-P
卓上蛍光X線分析装置 Revontium
スプレーテック
アクセサリ
サポート
X'Pert³シリーズ
X'Pert³ MRD
X'Pert³ MRD XL
ゼータサイザーシリーズ
ゼータサイザーアドバンスシリーズ
Zetasizer WT
Zetium
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Zetiumのポリマーエディション
Zetiumの石油エディション
Zetiumの金属エディション
Zetiumの鉱物エディション
2830 ZT
製品カテゴリ
ラボラトリ自動化
SamTracs
Sparcs
校正用基準粒子
CNAクロスベルト分析装置
ラボ用消耗品
GPCおよびSECカラム
溶融剤
白金坩堝及び白金皿
サンプルセルとキュベット
乳製品分析
元素分析ワークフロー
元素分析装置
燃料分析装置
ポータブルハンドヘルド分光計
画像分析
マイクロカロリメーター
マイクロ流体チップ
NIR分光計
光学式バイオセンサー
粒子径分布測定装置
XRFとICP向けのサンプル調製
ソフトウェアアプリケーション
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X線回折ソフトウェア
OmniTrust software
分光放射計
硫黄分析装置
熱分析装置
X線コンポーネント
XRD検出器
非室温依存チャンバー
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XRF分析装置
X線計測
X線散乱プラットフォーム
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X線回折管球
蛍光X線管球
産業用X線/NDT管球
技術
ホウ酸塩溶融
グレーティング結合干渉法(GCI)
画像分析
Morphologically Directed Raman Spectroscopy (MDRS: 形態学的ラマン分光法)
光散乱検出器
DLS - 動的光散乱法
レーザー回折・散乱法(LD)
多角度光散乱法(MALS)
多角度動的光散乱法(MADLS)
電気泳動光散乱法
静的光散乱法(SLS)
ナノトラッキング法
液体クロマトグラフィー
GPC - ゲル浸透クロマトグラフィー
サイズ排除クロマトグラフィー (SEC)
超高パフォーマンス液体クロマトグラフィー(UPLC)
マイクロカロリメトリー
示差走査型カロリメトリー(DSC)
等温滴定型カロリメトリー(ITC)
マイクロ流体
空間フィルタ速度計測法
分光法
近赤外線(NIR)分析法
パルス高速熱中性子活性化(PFTNA)
X線分析
XRD - X線回折
XRF - 蛍光X線分析とは?蛍光X線分析の原理について
X線画像処理
X線散乱
測定タイプ
3D構造/画像処理
Label-free analysis
Particle Size
エピタキシー分析
ゼータ電位
タンパク質凝集
タンパク質間の相互作用
タンパク質電気泳動移動度
ハイスループットスクリーニング(HTS)
リモート検出
位相の定量化
元素分析
元素定量
分子サイズ
分子構造
分子量
化合的同定
含水率
地上検証
残留応力分析
汚染物質の検出と分析
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粒子の特性評価
粒子形状
粒子濃度
粘度
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結合動力学
結合定数
結合親和性
結晶構造の解析
結晶相同定
薄膜測定
蛍光検出
表面特性評価
解離定数
逆格子空間解析
配向分析
高次構造(HOS)
業界
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ISO 13032
ISO 20847
ASTM
ICH
IP
ISO
USP
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LabSpec
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QualitySpec 7000
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LeDoser-12
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2830 ZT
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