分光法

近赤外線分光法は、極めて柔軟な分光分析の形式で、材料を測定してプロセスを最適化する、コスト効率の高いソリューションです。

ASD製品の可視と近赤外線分光計は、材料識別と分析、および光エネルギー測定に理想的なソリューションです。ASDのフルレンジ/ポータブルソリューションは、次の分光技術に対応しています。 

• Vis-NIR分光法
  
• SWIR (短波赤外線)分光法
• Vis-NIR分光放射測定

形態学的に指示したラマン分光(MDRS )は、自動粒子画像解析とラマン分光を組み合わせています。これにより、多成分試料中の個々の成分の化学的および形態学的特性評価を迅速かつ自動的に実行できます。

Morphologi 4-Idは、単一の統合されたプラットフォームにより、迅速な成分固有の自動粒子特性評価を提供します。は、単一の統合されたプラットフォームにより、迅速な成分固有の自動粒子特性評価を提供します。 

蛍光X線分析装置は、Ｘ線を使用してサンプルを励起させ、サンプルからの蛍光X線を測定することでサンプル中の元素を識別します。元素は、蛍光Ｘ線のエネルギーと波長を特定することで識別され、濃度は、蛍光X線の強度により計算されます。

X線分光法には、次の2つの方法があります。エネルギー分散分光法および波長分散分光法Malvern Panalyticalでは、サンプルの定性的情報と定量的情報の両方に対して、蛍光X線分析ソリューションを提供しています。

PFTNAは、分光技術を使用して元素濃度を解析します。この技法は、さまざまな産業で高速なオンラインプロセス管理を有効にするために使用されることが増えています。

CNAシリーズのクロスベルト分析装置は、リアルタイムの安全で安定したインラインプロセス制御により、極めて代表的な元素分析が実現します。