X線回折装置（XRD）

X線回折装置は、大きく分けて以下の3種類があります。

X線回折装置の基本的な構造

X線回折装置は、大きく分けて以下の3つの部分で構成されています。

1. X線源：X線を発生させる装置です。一般的には、銅やクロムなどの金属ターゲットに電子ビームを照射してX線を発生させます。
2. 試料台：分析対象の物質を載せる台です。
3. 検出器：散乱されたX線を検出する装置です。一般的には、プロポーショナル検出器や半導体検出器が使用されます。

X線回折法(XRD) は汎用性の高い非破壊分析手法であり、粉末サンプル、固体サンプル、液体サンプルの相組成、結晶構造、配向などの物性を分析するために使用します。

相の同定は、未知のサンプルから得られたX線回折パターンとリファレンスデータベースのパターンを比較することで実行できます。

このプロセスは、事件現場の捜査で指紋を照合するようなものです。最も包括的な化合物データベースは、ICDD (International Centre of Diffraction Data) によって維持管理されています。

また、実測による純粋相の回折パターン、または科学技術文献で公開されているパターンや独自の測定で得られたパターンからリファレンスデータベースを構築することもできます。

マルバーン・パナリティカルのEmpyreanなどの最新のコンピュータ制御のXRDシステムは、定性分析ソフトウェア(HighScoreなど) と組み合わせて使用します。このようなシステムでは自動ルーチンを使用することで、複雑な複合混合物による回折パターンであっても、個々の成分を分析および解釈することができます。