業界エディション
各産業に特化した専用ソリューション
概要
基礎的な革新
継続的な開発、カスタマーエクスペリエンスの向上
Zetiumプラットフォームに組み込まれた、WDXRFおよびEDXRFを統合したSumXcore技術により達成した科学的根拠に基づいた利益主導の革新は、最高の柔軟性、パフォーマンス、多様性を提供し、XRFの世界に革新をもたらしています。
基本インテリジェンス
高度な分析ハードウェアには高度な分析ソフトウェアと専門知識が必要です
SuperQソフトウェアの量子ステップにより、新しい技術の組み合わせと分析の可能性をもたらします。 Virtual Analystの機能により、システムの設定と操作時のユーザーエクスペリエンスが向上します。
基本的なサポート
地域に関係なく透明性と信頼性の高いサポート
保守作業から専門知識、トレーニングからラボ分析まで、あらゆる角度からユーザーをサポートします。 経験豊富なエンジニアの世界的なネットワークと、業界最大の応用科学者のグループの協力により、Malvern Panalyticalはお客様の分析要件を満たすお手伝いをします。
基本技術
60年の経験と遺産 - 理想的な出発点
Zetiumは、Axios、MagiX、およびPW2400などの大きな成功を収めたWDXRF分光装置シリーズに続く次世代の分光装置です。 実績ある技術の遺産は洗練され、Zetiumプラットフォームの基盤を前進させてきました。
機能
優れた分析性能
- 出力を1から2.4、3、または4 kWにアップグレードすることで感度の向上が可能
- 特定のアプリケーションパフォーマンス用のX線管アノード材質(Rh、Cr、Mo、およびAu)が利用可能
- 遷移金属分析で優れた感度および広いダイナミックレンジを実現するハイパーXeシールド検出器
- 重元素で幅広い測定範囲(最大3.5 Mcpsのリニアリティ)を実現し、鋼に含まれるNbおよびMoの精密分析に最適なHiPerシンチレーションディテクタ
優れたユーザーエクスペリエンス
- Virtual Analystを使用したシンプルで直感的なソフトウェア
- アプリケーション設定モジュールとソフトウェアソリューションのフルセット
- 業界をリードするOmnianを使用したスタンダードレスXRF分析 - 未知物質の分析または利用できるスタンダードがない場合も分析可能
- マッピングを使用した多元素微小スポット分析
- プログラム可能なコリメータマスク(6 mm～37 mmのサンプルサイズ用)
最大サンプルスループット
- SumXcore技術 - EDコアにより測定時間が最大50%減少
- 出力を1から2.4、3、または4 kWにアップグレードすることで分析時間を短縮
- 軽元素の同時測定用Hi-Perチャネル
- 連続的で直接的なサンプル装填により装置のオーバーヘッドを大幅に低減
- 高スループットアプリケーション用の高容量のサンプルチェンジャベッド(最大209箇所)
- 迅速かつエラーフリーのサンプル装填およびデータ入力を実現するサンプルチェンジャのバーコードリーダーオプション
堅牢性
- 粉塵除去装置により、汚染を最小限に抑え装置の稼働時間を最大化
- X線管球の耐久性と耐腐食性を高めるCHI-BLUE X線管球ウィンドウコーティング
- サンプルタイプの特定(固体および液体)
- エラーフリーのサンプル入力を実現するバーコードリーダー
低所有コスト
- 場所を取らないコンパクトな設計
- 少量エアロック設計 - サンプルの真空中への迅速な循環、液体分析での少ないヘリウム消費量
- アクセスが容易なサービスモジュールにより、装置のメンテナンスが容易になり、ダウンタイムを最小限に制限
- 専用のチラーによりラボラトリから熱を排除 - ラボラトリの空調インフラストラクチャの過負荷防止
- パッケージコスト削減ソリューション
アクセサリ
標準物質(認証物質)
フラックスおよび化学物質
酸化剤および非湿潤剤
金型およびるつぼ
ソフトウェア
サービス
XRF testing services
Malvern Panalytical offers a range of analytical services, ranging from elemental, structural and morphological analysis to validation and qualification services.
Smart Manager
Smart Manager は、機器の健全性と使用状況の管理の信頼できる守護者であり、分析における比類のない精度、信頼性、効率を常に時間通りに保証します。
オプション
システム強化パッケージ
- タスク指向のパフォーマンス強化機能
- 高サンプルスループット – サンプルチェンジャ容量の増加と最小限の装置のオーバーヘッド
- 粉塵を含むサンプルや液体の漏れからの保護
- バーコードリーダーによるエラーフリーのサンプル導入
- 変動サンプルタイプの処理(微小スポット分析を含む)
SumXcore
EDコア
Zetiumプラットフォームには、WDXRF、EDXRFを統合したSumXcore技術が組み込まれています。 この独自の組み合わせが、分析能力、速度、およびタスクの柔軟性においてSumXcoreを比類なき存在にしています。
WD/ED XRFの組み合わせによるメリット
- SumXcoreの同時測定によるタスクの柔軟性の最大化とパフォーマンスの向上
- 動的に短縮される測定時間(最大50%)または精度向上によるメリット
- 最適なパフォーマンスの柔軟性をもたらす可変信号減衰による高分解能SDDディテクタ
- 元素分析(ppm～100％の濃度でNa～Amまで)
- 測定時間を増やすことなくプロセス分析に影響する予期しない元素を追跡
- QA/QCプログラムの機能強化とすべての測定値に対して2つの独立した結果を出して品質の信頼性を向上
SuperQ 6(Virtual Analyst搭載)
Virtual Analystは、スタンダードの組成、実際の測定値、ユーザーデータの目的など、さまざまな情報源から情報を取得し、システムの応答を計算し、設定し、分析方法を決定します。
- Zetiumプラットフォームの機能へのアクセス
- シンプルで直感的なタスク指向フロー
- 高度なマトリックス補正の改良により、金属からポリマーまでのデータ精度が向上
- Virtual Analyst – 数十年にもわたる専門家のノウハウの具体化
マッピングを使用した微小スポット分析
元素分布マッピングによる微小スポット分析は、材料研究と生産工程のトラブルシューティングに最適なツールです。 この技術は、研究施設だけでなく必要な場所で利用できます。
- 材料研究と生産工程のトラブルシューティングに最適
- 実践的な分析時間
- 高感度の密結合光学経路
- EDコアを使用したスポットごとの高速同時多元素分析
- 500 µmスポットサイズ(FWHM)、100 µmステップサイズ
- 定量的、定性的、スタンダードレスなOmnian分析
- シンプルなサンプル調製
