Want to know more about Certified Reference Materials (CRMs) to calibrate XRF for battery element composition analysis?. Read this application note

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Zetium

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置(XRF)は、固体、液体、粉末など、さまざまな物質の元素を分析する事が可能です。中でも波長分散型はより高精度を求められる分析に適しております。当社の波長分散蛍光X線分析装置(WDXRF) Zetiumは、最も厳しい品質管理と研究開発用途に対応するよう設計され、BeからAmの元素領域をより高感度に分析できる革新的な機能を搭載しています。

WDXRFのプラットフォームに、エネルギー分散蛍光X線分析装置(EDXRF)の技術を統合可能なSumXcore技術が組み込まれています。この独自の組み合わせは、さまざまな環境での分析能力、速度、およびその柔軟性においてZetiumを比類なき存在にしています。  

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機能

優れた分析性能 

  • 出力を1から2.4、3、または4 kWにアップグレードすることで感度の向上が可能
  • 特定のアプリケーションパフォーマンス用のX線管アノード材質(Rh、Cr、Mo、およびAu)が利用可能
  • 遷移金属分析で優れた感度および広いダイナミックレンジを実現するハイパーXeシールド検出器
  • 重元素で幅広い測定範囲(最大3.5 Mcpsのリニアリティ)を実現し、鋼に含まれるNbおよびMoの精密分析に最適なHiPerシンチレーションディテクタ

優れたユーザーエクスペリエンス

  • Virtual Analystを使用したシンプルで直感的なソフトウェア
  • アプリケーション設定モジュールとソフトウェアソリューションのフルセット
  • 業界をリードするOmnianを使用したスタンダードレスXRF分析 - 未知物質の分析または利用できるスタンダードがない場合も分析可能
  • マッピングを使用した多元素微小スポット分析
  • プログラム可能なコリメータマスク(6 mm~37 mmのサンプルサイズ用)

最大サンプルスループット

  • SumXcore技術 - EDコアにより測定時間が最大50%減少
  • 出力を1から2.4、3、または4 kWにアップグレードすることで分析時間を短縮
  • 軽元素の同時測定用Hi-Perチャネル
  • 連続的で直接的なサンプル装填により装置のオーバーヘッドを大幅に低減
  • 高スループットアプリケーション用の高容量のサンプルチェンジャベッド(最大209箇所)
  • 迅速かつエラーフリーのサンプル装填およびデータ入力を実現するサンプルチェンジャのバーコードリーダーオプション

堅牢性

  • 粉塵除去装置により、汚染を最小限に抑え装置の稼働時間を最大化
  • X線管球の耐久性と耐腐食性を高めるCHI-BLUE X線管球ウィンドウコーティング
  • サンプルタイプの特定(固体および液体)
  • エラーフリーのサンプル入力を実現するバーコードリーダー

 低所有コスト

  • 場所を取らないコンパクトな設計 
  • 少量エアロック設計 - サンプルの真空中への迅速な循環、液体分析での少ないヘリウム消費量
  • アクセスが容易なサービスモジュールにより、装置のメンテナンスが容易になり、ダウンタイムを最小限に制限
  • 専用のチラーによりラボラトリから熱を排除 - ラボラトリの空調インフラストラクチャの過負荷防止
  • パッケージコスト削減ソリューション

各産業に特化した専用ソリューション

Zetium XRF分光装置の業界エディションには、専用の専門技術テンプレート、特定の業界用のハードウェアとソフトウェア構成が用意されています。 これらの業界エディションは迅速な検証とキャリブレーションを目的として設計されており、独自の高品質でトレーサブルなアプリケーションセットアップモジュールを備えています。また、セットアップ標準物質とサンプル調製の手順が用意されています。 さらに、一般的な業界用途規格と国際規格に準拠するよう調整されたアプリケーションテンプレートも含まれています。 このアプローチを使用している業界としては、セメント、鉱物、金属、石油化学製品、ポリマー、プラスチックなどが挙げられます。 Ultimateエディションの構成は、業界に関係なく最も厳しい要求に対応できます。

基礎的な革新

継続的な開発、カスタマーエクスペリエンスの向上

Zetiumプラットフォームに組み込まれた、WDXRFおよびEDXRFを統合したSumXcore技術により達成した科学的根拠に基づいた利益主導の革新は、最高の柔軟性、パフォーマンス、多様性を提供し、XRFの世界に革新をもたらしています。

基本インテリジェンス

高度な分析ハードウェアには高度な分析ソフトウェアと専門知識が必要です

SuperQソフトウェアの量子ステップにより、新しい技術の組み合わせと分析の可能性をもたらします。 Virtual Analystの機能により、システムの設定と操作時のユーザーエクスペリエンスが向上します。

基本的なサポート

地域に関係なく透明性と信頼性の高いサポート

保守作業から専門知識、トレーニングからラボ分析まで、あらゆる角度からユーザーをサポートします。 

経験豊富なエンジニアの世界的なネットワークと、業界最大の応用科学者のグループの協力により、Malvern Panalyticalはお客様の分析要件を満たすお手伝いをします。 

基本技術 

60年の経験と遺産 - 理想的な出発点

Zetiumは、Axios、MagiX、およびPW2400などの大きな成功を収めたWDXRF分光装置シリーズに続く次世代の分光装置です。 

実績ある技術の遺産は洗練され、Zetiumプラットフォームの基盤を前進させてきました。

継続的な開発、顧客エクスペリエンスの向上

仕様

Industry editions
ZetiumのUltimateエディション
Zetiumのセメントエディション
Zetiumの金属エディション
Zetiumの石油エディション
Zetiumのポリマーエディション
Zetiumの鉱物エディション
Calibration standards

エディションに応じて、互換性のある関連する校正標準には次のものがあります。

ニフェコ
ラス
銅系
アドポール
トクセル
RoHSウィー
燃料およびオイル中の硫黄 (ASTM D2622)
潤滑油準拠 (ASTM D6443)

X-ray tubes

エディションに応じて、互換性のある関連する X 線管には、SST-R Rh、SST R-mAX、X 線管が含まれます。

ソフトウェア

エディションに応じて、互換性のある関連ソフトウェアには次のものが含まれます: SuperQ、Smart Manager (オプション)

アクセサリ

Sample preparation

ホウ酸塩フラックスおよび化学物質

XRF、ICP、およびAA分析用にサンプルを融合させる最初の選択

Claisseは融合のワンストップショップおよび世界有数のホウ酸塩フラックスの生産業者として、使いやすくて汚染のない高品質の化学薬品を開発しています。

2つのグレードの純度(純度99.98+%と高純度99.995+%)で提供され、非湿潤剤の有無にかかわらず使用でき、弊社のホウ酸リチウムフラックスは均質で、ビーズ状になっています。

Claisse製ホウ酸リチウムフラックスを使用して以下のことを行います:

  • 結晶化を避ける
  • プラチナ器具にガラスが付着する可能性を減らす
  • 亀裂を避ける

弊社の計量済み、または、カスタマイズされたホウ酸塩フラックスをお試しいただくと作業が簡単になります。

融合モニター

融合装置用の高速でエラーのない先行的なモニタリング

XRFラボラトリーでは、品質管理サンプルを定期的に使用して、分析結果の品質を保証し、精密で正確なデータを確保する必要があります。

誤った分析結果を取得すると、製造および商業上の意思決定に影響を与える可能性があり、非常にコストがかかることがあります。 さらに、融合-XRFプロセスは、変動源が完全に特定されて排除されるまで、オフラインのままになります。 分析結果が定義済みの基準の範囲外であることが判明した場合は、計画されたアクションを実行する必要があります。 分析結果は、多くの要因の影響を受ける可能性があるため、トラブルシューティングの手順は、多くの場合、費用と時間がかかる可能性があります。

Claisse LeNeo

融合におけるClaisseの知識と経験でつねに先を行く

Claisse LeNeo融合装置は、XRF用のガラスディスクや、AAおよびICP分析用のホウ酸塩および過酸化物溶液を調製します。 1位置電気式装置です。

FORJ (フォージ)

迅速、安全、正確なガラスビード作製、試料前処理装置

FORJ(フォージ)は、優れた堅牢性、生産性、安定した前処理を確実に行うために新たに開発されたガラスビード作製、試料前処理装置です。蛍光X線分析(XRF)やICP用アルカリ溶解、AA用乾式分解の前処理がこの1台で可能です。

  • 堅牢性と信頼性
  • ハイスループット
  • 高精度
  • 組み込み、設置、簡便な装置

Molds & crucibles

Platinum molds and crucibles

Labware is of critical importance in sample preparation by fusion. Malvern Panalytical offers molds and crucibles made of 95% platinum are 5% gold. They are available in a wide range of sizes and thicknesses to help you obtain the best analytical results.

We also offer nickel and zirconium crucibles for peroxide fusion.

Malvern Panalytical fusion instruments were developed to be used with specifically designed platinumware. All our platinum accessories have been tested and engineered to provide:

  • The best mixing performance.
  • Longer lifetime.
  • Higher success rates in preparation of glass disks.
  • Perfect compatibility with our fusion instruments.

Precious Metal Scrap Policy

Selling your precious metal scrap can have a significant impact on your profits. Invest your scrap platinumware instead of collecting it in your drawers!

Software

SuperQ

分析用XRFソフトウェアパッケージ

SuperQは、初心者でも経験豊富なユーザーでもZetium分光器を最大限に活用できる高度で包括的なソフトウェアパッケージです。20年以上の実績を持つプラットフォーム上に構築されたSuperQは、使いやすく、拡張性が高く、ほとんどの国際言語に対応しており、Zetiumを運用するための重要な要素となります。

産業に関係なく、SuperQは高品質なデータを提供します。

Stratos

皮膜および多層膜の組成と厚さを測定

Stratosソフトウェアモジュールは、測定から得られた化学組成と層状材料の厚さを同時に測定できるアルゴリズムを採用しています。このソフトウェアは、迅速でシンプルな非破壊的な方法でコーティング、表面層、および多層構造を分析できます。Virtual Analystは、複雑なスタック用の測定プログラムの設定時に情報を提供します。 


Stratosは、Epsilon 4 EDXRF、およびZetium XRF分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。

Pro-Trace

信頼性の高い微量元素分析

環境、地質、産業分野において、信頼性の高い微量元素分析の重要性が高まっています。これは、より厳密な世界的な汚染管理の規制に対応するために特に重要です。

正確なネット強度は、高品質な微量元素分析の基礎となります。さらに、すべての主要元素データが利用できない場合には、正確なマトリックス補正が不可欠になります。

Pro-Traceは、微量元素分析におけるネット強度の計算や、合計マトリックスが不明な場合の正確なマトリックス補正に最適です。

Oil-Trace

正確な微量元素分析

Oil-Traceは、WDXRFおよびEDXRFを使用して正確で信頼性の高い液体試料の元素分析が行える標準試料セットを含むソフトウェアパッケージです。Oil-Traceは、液体分析時に次の2つの問題を解決します。

1) CHON元素の混合物が不明な場合は、適切なマトリックス補正を行う

2) 分析するサンプル量の変動によるエラーの修正

Oil-Traceは、これらの問題に効果的に対処することで、石油分析に大きなメリットをもたらします。

優れたデータセキュリティ

データを保護し、監査に準拠する

Enhanced Data Security (EDS)モジュールは、Zetium XRF分光計(SuperQソフトウェアを使用)およびEpsilon XRF分光計を使用しているユーザーのために、信頼性の高い測定結果を提供するソフトウェアオプションです。EDSは高度なユーザー管理、アクションログ、データ保護、アプリケーションステータスの割り当てなどの機能を備えており、監査証跡を強化し、エラー発生リスクを最小限に抑え、XRF装置が期待どおりに動作することを保証します。

Omnian

あらゆる種類のサンプルのスタンダードレス分析

Omnianを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合に、最良の定量結果を導き出します。 主流となりつつあるスタンダードレス分析パッケージであるOmnianには、技術に対応する最先端のソフトウェアと設定サンプルが組み込まれています。 Omnianは、Epsilon 1、Epsilon 4、およびZetium分光計で使用可能で、サンプルタイプやマトリクスに関係なく、即座に信頼性の高い結果を得ることができます。

Services

XRF testing services

Malvern Panalytical offers a range of analytical services, ranging from elemental, structural and morphological analysis to validation and qualification services.

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XRF testing services

Smart Manager

Smart Manager は、機器の健全性と使用状況の管理の信頼できる守護者であり、分析における比類のない精度、信頼性、効率を常に時間通りに保証します。

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Smart Manager

Calibration standards

融合ホウ酸塩ディスク

キャリブレーションが簡単にできます

XRF アプリケーションの校正およびモニタリング用にカスタマイズされた溶融ホウ酸塩ディスク。当社の溶融ホウ酸塩ディスクは、CRM またはカスタマイズされた合成酸化物を使用して作られており、お客様の分析ニーズに合わせてカスタムメイドされています。

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WROXI

鉱物における正確で広範囲な濃度試料の酸化物の分析

WROXI CRM は、鉱石、岩石、地質物質などの幅広い酸化物物質をカバーする合成の高品質認定標準物質キットです。

詳細

ADPOL

XRFによる機能性ポリマー添加物の正確な元素分析

ポリマー、化合物、プラスチックの正確で信頼できる XRF 元素組成を数分で取得します。

詳細

Cuベース

Cu合金の正確な元素分析

Cu ベース FP パッケージには、適用可能な校正標準が含まれており、基本パラメータ (FP) モデルを使用して幅広い Cu 合金をカバーしており、Cu ベース材料の非常に正確な分析が可能です。
詳細

LAS

Malvern Panalytical XRF分光装置による低合金鋼分析

逐次および同時 XRF 分光計 Zetium および Axios FAST 用の低合金鋼 (LAS) パッケージは、最大 21 個の元素をカバーする 90 を超える CRM と、ドリフトおよびサンプル前処理補正用の 4 つのモニター サンプルに基づいています。

詳細

NiFeCo

耐熱鋼と超合金の分析に最適

Malvern Panalytical の基本パラメータ (FP) マトリックス補正アルゴリズムは、最大 21 個の元素の広範囲の合金分析を行うための単一のアプリケーション プログラムを提供するために使用されます。

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RoHS

RoHS規制物質の正確な元素分析

RoHS 校正モジュールは、メーカーや研究機関が RoHS 2 法の要件に準拠するのに役立ちます。 RoHS 校正標準を使用した正確な元素分析により、コストを節約し、REACH などの国際規制への準拠をサポートできます。

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TOXEL

XRFを使用したポリマーやプラスチックに含まれる有害元素の正確な分析

TOXEL モジュールを使用すると、さまざまな種類の PP や PE を含むポリオレフィン中の有毒元素の元素分析を簡単かつ正確に行うことができます。

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システム強化パッケージ

Zetiumプラットフォームのモジュラー設計により、最も厳しい要件にも対応できるカスタマイズ可能な構成を設定できます。

  • タスク指向のパフォーマンス強化機能
  • 高サンプルスループット – サンプルチェンジャ容量の増加と最小限の装置のオーバーヘッド
  • 粉塵を含むサンプルや液体の漏れからの保護
  • バーコードリーダーによるエラーフリーのサンプル導入
  • 変動サンプルタイプの処理(微小スポット分析を含む)

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Smart Manager

データの可能性を最大限に引き出しましょう

これまで、装置のデータは手動記録、スプレッドシート、または拠点ごとのサーバーに閉じ込められていることがよくありました。ZetiumをSmart Managerに接続し、クラウド上で継続的にデータを分析することで、その可能性を最大限に引き出すことができます。これは、Malvern PanalyticalのConnected Worldの一環であるデジタルソリューションのひとつです。

SumXcore

Zetiumプラットフォームには、WDXRF、EDXRFを統合したSumXcore技術が組み込まれています。 この独自の組み合わせが、分析能力、速度、およびタスクの柔軟性においてSumXcoreを比類なき存在にしています。

WD/ED XRFの組み合わせによるメリット

  • SumXcoreの同時測定によるタスクの柔軟性の最大化とパフォーマンスの向上
  • 動的に短縮される測定時間(最大50%)または精度向上によるメリット
  • 最適なパフォーマンスの柔軟性をもたらす可変信号減衰による高分解能SDDディテクタ
  • 元素分析(ppm~100%の濃度でNa~Amまで)
  • 測定時間を増やすことなくプロセス分析に影響する予期しない元素を追跡
  • QA/QCプログラムの機能強化とすべての測定値に対して2つの独立した結果を出して品質の信頼性を向上

SuperQ 6(Virtual Analyst搭載)

Virtual Analystは、スタンダードの組成、実際の測定値、ユーザーデータの目的など、さまざまな情報源から情報を取得し、システムの応答を計算し、設定し、分析方法を決定します。

  • Zetiumプラットフォームの機能へのアクセス
  • シンプルで直感的なタスク指向フロー
  • 高度なマトリックス補正の改良により、金属からポリマーまでのデータ精度が向上 
  • Virtual Analyst – 数十年にもわたる専門家のノウハウの具体化

マッピングを使用した微小スポット分析

元素分布マッピングによる微小スポット分析は、材料研究と生産工程のトラブルシューティングに最適なツールです。 この技術は、研究施設だけでなく必要な場所で利用できます。

  • 材料研究と生産工程のトラブルシューティングに最適
  • 実践的な分析時間
  • 高感度の密結合光学経路
  • EDコアを使用したスポットごとの高速同時多元素分析
  • 500 µmスポットサイズ(FWHM)、100 µmステップサイズ
  • 定量的、定性的、スタンダードレスなOmnian分析
  • シンプルなサンプル調製

ユーザーマニュアル

ソフトウェアのダウンロード

06 March 2025

1.7.25065

Smart Instruments: Cloud Service Software update

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The smart XRF spectrometer for the most demanding applications.

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