Malvern Panalytical has >750 application notes and we also have many published papers showing how our technologies are used for a large range of applications. Here we have cataloged our application notes according to the themes of University Departments. This gives you the opportunity to have an overview of what has been produced in subjects close to yours. You may be quite knowledgeable in one analytical method and want to know how other analysis types are used in your field of research. You may be starting a new field of research and want to know what can help you gain vital knowledge. Take some time to look around! If you don’t find what you’re looking for, contact us. We may be able to find information for you that is not yet published.
Analysis methods are indicated by abbreviations. There is a table at the bottom of each page explaining the method and its abbreviation.
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略語解説
当社の製品と技術については、製品ページを参照してください。以下では、当社の装置で測定された特性、測定名とその略称を簡単に参照できます。各メソッドをクリックすると、詳細が表示されます。
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略語 |
メソッド名 |
装置 |
測定された特性 |
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DLS |
ゼータサイザー |
分子サイズ、流体力学的半径RH、粒子サイズ、粒度分布、安定性、濃度、凝集 |
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ELS |
ゼータサイザー |
ゼータ電位、粒子電荷、懸濁液の安定性、タンパク質電気泳動移動度 |
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ITC |
MicroCal ITC |
結合親和性、溶液中の分子反応の熱力学 |
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.dsc |
Microcal DSC |
大きな分子の変性(アンフォールド)、高分子の安定性 |
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GCI |
Creoptix WAVEsystem |
リアルタイムの結合反応速度と親和性、流体工学によるラベルフリー |
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IMG |
モフォロギ 4
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粒子の画像処理、形状、サイズの自動測定
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MDRS |
モフォロギ4-ID |
粒子の画像処理、形状、サイズの自動測定、化学的同定、汚染物質の検出 |
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LD |
マスターサイザー スプレーテック インシテック Parsum |
粒子サイズ、粒度分布 |
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NTA |
ナノサイト |
粒子サイズ、粒度分布、濃度 |
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SEC または GPC |
OmniSEC |
分子サイズ、分子量、オリゴマー状態、ポリマーまたはタンパク質のサイズ、分子構造 |
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SPE |
Le Neo LeDoser Eagon 2 The OxAdvanced M4 rFusion |
XRF用溶融ビーズ試料の調製、ICP用過酸化物溶液の調製、ビーズ作製用のフラックス計量 |
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UV/Vis/NIR/ SWIR |
LabSpec FieldSpec TerraSpec QualitySpec |
材料識別と分析、水分、鉱物、炭素の含有量。航空および衛星分光分析技術の地上検証。 |
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PFTNA |
CNA |
インライン元素分析 |
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XRD-C |
Aeris Empyrean |
分子結晶構造の精製、 結晶相の同定と定量化、結晶対非結晶比、結晶子径分析 |
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XRD-M |
Empyrean X’Pert3 MRD(XL) |
残留応力、テクスチャ |
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XRD-CT |
Empyrean |
固体、気孔率、密度の3D画像処理 |
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SAXS |
Empyrean |
ナノ粒子、サイズ、形状、構造 |
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GISAXS |
Empyrean |
ナノ構造の薄膜と表面 |
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HR-XRD |
Empyrean X’Pert3 MRD(XL) |
薄膜およびエピタキシャル多層、組成、ひずみ、厚さ、品質 |
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XRR |
Empyrean X’Pert3 MRD(XL) |
薄膜と表面、膜厚、表面、界面粗さ |
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XRF |
Epsilon Zetium Axios FAST 2830 ZT |
元素組成、元素濃度、微量元素、汚染物質の検出 |