実績あるEpsilon 3シリーズのXRF分光計の経験と成功に基づいて設計されたEpsilon 4は、R&Dからプロセス管理の分野でフッ素(F)からアメリシウム(Am)まで元素分析が必要なあらゆる業界に対応する多機能装置です。 最新の励起/検出技術と完成された分析ソフトウェアが融合し、スマートにデザインされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型のXRF分光計に匹敵します。
業界エディション
Epsilon 4 Mining and minerals
Epsilon 4 Oils and fuels
Epsilon 4 Lubricating oils
Epsilon 4 Pharmaceuticals and cosmetics
Epsilon 4 Food and environment
Epsilon 4 Building materials
Epsilon 4ポリマープラスチック/塗料
概要
場所を選ばないEpsilon 4
Epsilon 4は、構造上の要件がほとんどないため、場所を気にせずに生産ラインの近くに配置することができます。 その高性能により、さまざまな環境条件でほとんどの用途に使用でき、ヘリウムや真空の保守費用を削減できます。
分析以上の価値
エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、炭素(C)からアメリシウム(Am)までの元素分析を実行し、サブppmから100wt%までの濃度範囲に対応できます。
Omnianではスタンダードレス分析、異同識別(フィンガープリント)ソフトウェアでは分析速度が重要な物質テスト、Stratosでは被膜、表面層および多層構造体の迅速かつシンプルな非破壊分析をそれぞれ行うことができます。 FDA 21 CFR Part 11などの規制に準拠しているEnhanced Data Securityを使用できます。また、未使用および使用済み潤滑油中の燃料とバイオ燃料混合物を定量化するためにOil-Traceを使用することもできます。
幅広いサンプル種類の測定が可能
Epsilon 4は、固体、粉末(加圧成形/粉体)、液体、フィルターなど、さまざまなタイプのサンプルを分析できます。 炭素(C)フッ素からアメリシウム(Am)までの元素の非破壊定量分析を実行します。濃度は100%からサブPPMレベル、重さは数ミリグラムから数キログラムまでのサンプルを分析できます。
Epsilon 4は、軽元素の分析が最も重要な場合でも、セメント製造、鉱業、鉱物選鉱、鉄、鉄鋼/非鉄金属、RoHSスクリーニング/定量、石油/石油化学製品、ポリマー/関連産業、ガラス製造、法医学、製薬、健康管理用品、環境、食品、化粧品などの幅広い業界や用途向けの従来のシステムに代わる堅牢で高い信頼性を誇るシステムです。
機能
柔軟な設定
Epsilon 4は、R&Dからプロセス管理の分野で、元素分析(F~Am)用の10ワットバージョンで使用できる高い柔軟性を誇る分析ツールです。 高サンプルスループットや拡張された軽元素機能が必要な場合や、より厳しい環境では、炭素、窒素、酸素も分析できる15ワットバージョンが使用できます。
最新の開発
Epsilon 4分析装置では、最新の励起および検出技術と先進の分析ソフトウェアが組み合わされています。 高電流(3 mA)の15ワットX線管と最新のシリコンドリフト検出器SDD30の組み合わせ、さらには光学系のコンパクトな設計により、出力50ワットのEDXRFシステムおよびデスクトップタイプWDXRFシステムよりも優れた分析性能を発揮し、優れた出力効率が実現できます。
高速で高感度
非常に高い散乱強度を生成する最新のシリコンドリフト検出器を使用して高速測定を実現します。
独自の検出器エレクトロニクスにより、線形カウントレート容量を1,500,000 cps (50%の不感時間)以上にして、カウントレートの独立分解能を通常135 eV以上にすることで、スペクトル内の分析ラインを適切に分離することができます。 これにより、Epsilon 4分光計を全出力で実行でき、従来のEDXRFベンチトップ装置よりもサンプルスループットが大幅に向上します。
ヘリウム消費の削減
高性能を誇るEpsilon 4は、大気中でのさまざまな用途に使用できるため、ヘリウムや真空システムのメンテナンスにかかる時間が短縮し、コストを削減できます。 空気中で測定する場合、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウムに固有の低エネルギーX線光子は、気圧や温度の変化に敏感です。 内蔵の温度および気圧センサは、これらの環境の変化を補償し、天候にかかわりなく優れた結果を提供します。
仕様
サンプルハンドリング | X線管球 | 検出器 | ソフトウェア |
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取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ | 金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性 | 高分解能シリコンドリフト検出器(SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) | Omnianスタンダードレス分析ソリューションによる元素スクリーニング |
分光計は直径52 mm (2インチ)までのサンプルに対応できます | 軽元素(Na、Mg、Al、Si)用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ | 最大カウントレート: 1,500,000カウント/秒(50%の不感時間) | FingerPrintソリューションによる合格/不合格分析 |
エアフィルター分析の精度を高めるためにスピナーが搭載されています | 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 | 高感度の薄型エントランス検出器ウィンドウ | 調節環境用のEnhanced Data Security |
大型サンプル(高さ最大10 cm)対応の大量サンプルモード |
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多層サンプル用Stratos |
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未使用および使用済み潤滑油中の摩耗金属用のOil-Traceを使用した柔軟なキャリブレーション |
アクセサリ
標準物質(参照物質)
ソフトウェア
イプシロンソフトウェア
イプシロンソフトウェアは、XRF分析ソフトウェアのプラットフォームであり、PANalyticalのEpsilon 1およびEpsilon 4ベンチトップタイプEDXRFシステムシリーズで使用されています。
Stratos
Omnian
Omnianソフトウェアを使用すると、専用の分析方法や認定済み標準物質が存在しない場合でも、最適な分析を実現することができます。
Oil-Trace
異同識別(フィンガープリント)ソフトウェア
Epsilon EDXRFと組み合わされたFingerPrintソフトウェアモジュールは、分析速度が重要で実際の組成は重要ではない場合の材料テストに最適です。
優れたデータセキュリティ
サポート
設備
投資利益率を最大限にするソリューション
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。 当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
サポート
寿命終了までのサービス
- 電話とリモートサポート
- 予防メンテナンスと点検
- 柔軟なカスタマーケア契約
- パフォーマンス認定書
- ハードウェアおよびソフトウェアアップグレード
- ローカルおよびグローバルサポート
専門知識
工程に価値を付加する
- サンプル調製の開発/最適化
- 分析方法論
- XRD用ターンキーソリューション
- IQ/OQ/PQによるオペレーション、品質保証(GLP、ISO17025)、またはラウンドロビン/研究所間の連携
- ラボ工程の自動化
- コンサルティングサービス
トレーニングと教育
- オンサイトまたは当社の研修センターでのトレーニング
- 製品、アプリケーションおよびソフトウェに関する広範な基本コースおよび上級コース
分析サービスとキャリブレーション材料
- 専門(XRF)分析サービス
- 酸化物と微量元素の分析
- カスタマイズされたキャリブレーション材料