粒子状物質は、空気品質と公衆衛生にとって脅威になりつつあります。 PM2.5およびPM10粒子として知られる、より小さなタイプの粒子状物質(PM)は、特に有害です。 これらの毒性の高い空気粒子は、呼吸するだけで呼吸器系に吸入されるほど小さいものです。 これらの影響が理解されるようになるにつれて、政府や当局は大気汚染粒子に対してより厳しい規制を実施しています。
これらの規制を効果的に維持するため、当局は空気品質を正確に把握する必要があります。 つまり、特定の領域内の浮遊粒子の濃度を正確に測定し、これらの不純物の発生源を特定できることです。 高度な元素分析技術により、空気粒子のより正確なプロファイリングができるようになり、重要な役割を果たしています。
蛍光X線による汚染源のプロファイリング
蛍光X線(XRF)は、エアフィルターで収集されたエアロゾルの元素分析に使用される非破壊技術です。 XRFの主な利点は、フィルター材料を溶解することなく、フィルターを分光計に直接ロードできることです。 分析後も、他の空気品質分析技術を使用して試料をさらに分析できます。
Epsilon 4の空気品質エディションでは、国際的に認められている試験方法であるEPA IO-3.3の要件に従って元素濃度を分析できます。 この非常に正確な粒子状物質分析に加えて、分光計は25 mmから52 mmまでのエアフィルターも処理できます。
Epsilon 4には、EPA IO-3.3に準拠した工場校正を装備できるため、設置日から正確な分析が可能です。 10ポジションの回転式では不十分な場合、Malvern Panalyticalは、60ポジションの試料チェンジャーを提供して、オペレータの干渉なしに24時間稼働できるようにします。
