WDXRF:波長分散型蛍光X線分析装置 |
Zetium(ゼティウム) 2.4KW, 3KW, 4KW
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EDXRF:エネルギー分散型蛍光X線分析装置 |
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蛍光X線分析(XRF)とは、測定サンプルにX線を照射して発生する固有の蛍光X線(波長:λやエネルギー:KeV)を測定することで構成されている元素を同定(組成分析)し、その構成される元素の含有量を分析(定量分析)可能な分析技術です。
分析可能なサンプル形態は、固体、粉末、液体、スラリー、フィルムなどほぼ全ての形態を前処理なし(非破壊)に測定可能で、測定元素範囲もベリリウム(Be)からアメリシウム(Am)と広範囲で、定量分析(含有量分析)もppmレベルから100%です。
蛍光X線分析装置の基本的な構成要素は励起源、サンプル、および検出器です。励起源は、試料サンプルにX線を照射し、検出器からのX線を測定します。
励起源には一般的にX線管球が使用されます。装置は、エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDXRF)と波長分散型蛍光X線分析装置(WDXRF)の2 種類に分けられます。2 つのシステムの違いは、検出方法の違いにあります。
蛍光X線分析(XRF)の特長として、サンプルの前処理が不要なこと以外に、人為的な誤差がなく、装置も長期に安定していることから、あらゆる業界(石油、石油化学、鉱業、地質学、セメント、ガラス、食品や医薬品など)のお客様の工程管理や品質管理に使用されています。
また、蛍光X線分析(XRF)は長い歴史を持った分析手法ですので、国際的な試験法(ASTM、ISO、EPA、JIS、ICH-Q3D、UPSなど)に準拠しています。最近では蛍光X線(XRF)分析装置の測定迅速性から、スクリーニングツールとして、研究開発やRoHS/RoHSⅡ/ELV指令対応のための受け入れや出荷検査などにも応用されています。
マルバーン・パナリティカルのXRF(蛍光X線)分析装置による測定事例をご紹介します。リンクをクリックして、資料をダウンロードしてご覧ください。
* Axios mAX(アクシオス・マックス)は販売終了しました。WDXRFをお探しのお客様は、Zetium(ゼティウム)をご覧ください。
XRFは、材料の研究開発において極めて重要な役割を果たしています。
医薬品および医療分野でも、XRFはさまざまな用途に使用できます。
サンプルの準備から結果レポートまで、元素分析のニーズを達成するための理想的なワークフローの構築をお手伝いします。
XRF分析は高い精度と正確性を簡単で迅速なサンプル調製と組み合わせた堅牢な技術です。高スループットの業界環境で使用するために容易に自動化することができ、さらにXRFではサンプルの定性的および定量的情報が提供されます。
サンプルの蛍光X線スペクトルの分離(分散)、特定および散乱強度測定に使用される技術は、波長分散型(WDXRF)システムとエネルギー分散型(EDXRF)システムの2つのタイプの分光装置に分かれます。
これらの分光計の種類とその背後にある技術の詳細については、こちらをご覧ください。
ルバーン・パナリティカルが提供するXRF(蛍光X線)分析装置は以下の通りです。
WDXRF:波長分散型 |
Zetium(ゼティウム) 2.4KW, 3KW, 4KW
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Zetium(ゼティウム) 1KW
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EDXRF:エネルギー分散型 |
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サンプルプレパレーション |
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当社の幅広いXRFソフトウェアパッケージは、XRF装置から最大の価値を引き出すことをサポートします。当社の卓越性に対する取り組みは、当社のソフトウェアが継続的に進化していることを意味します。当社は、お客様に最新の進歩と機能に確実にアクセスしていただくために、XRF分析技術の最前線にとどまれるよう、研究開発に投資しています。
卓上蛍光X線分析装置 Revontiumコンパクトで高機能、強力な分析、無限の可能性 |
Zetiumハイエンド波長分散蛍光X線分析装置 |
高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)装置です。 |
Axios FAST優れたサンプルスループット |
2830 ZT先進の半導体薄膜測定ソリューション |
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測定タイプ | |||||
薄膜測定 | |||||
元素分析 | |||||
汚染物質の検出と分析 | |||||
元素定量 | |||||
化合的同定 | |||||
技術 | |||||
波長分散型蛍光X線 | |||||
エネルギー分散型X線分析 | |||||
元素範囲 | |||||
最小検出下限 | |||||
分解能(Mg-Ka) | |||||
サンプル処理 |