波長分散型分光分析WDXRFおよびMalvern Panalytical WDXRF分析装置の概要
蛍光X線(XRF)分光装置は、異なるタイプの材料から元素情報を取得するために使用される非破壊分析技術です。
この装置はセメント製造、ガラス製造、採掘、鉱物選鉱、鉄、鋼および非鉄金属、石油および石油化学製品、ポリマーおよび関連業界、製薬、ヘルスケア製品、および環境などのさまざまな業界や用途に採用されています。
分光装置システムは、主に波長分散型システム(WDXRF)とエネルギー分散型システム(EDXRF)の2つのグループに分けられます。これらの違いは検出システムの違いです。
すべての分光装置の基本概念は、放射線源、サンプル、および検出システムです。WDXRF分光装置では、光源として機能するX線管がサンプルに直接X線を照射し、サンプルからの蛍光が波長分散型検出システムで測定されます。
個別の元素から発生した特性放射線は、X線をその波長に基づいて、または反対にそのエネルギーに基づいて分離する分光結晶を使用して特定することができます。
このような分析は、連続する(シーケンシャルな)異なる波長で、または固定した位置でX線の散乱強度を測定するか、常に同時に異なる波長でX線の散乱強度を測定することで実行できます。
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