機能
層状参照資料の必要性を低減
Stratosパッケージの優れた利点は、組成と層構造は未知の物質とは異なる従来のバルクXRF標準試料または基準試料を使用して校正された装置で優れた結果を得ることができることです。これにより、半導体ウェハやめっき金属の分析で発生する製造サンプルと一致する高価な認証薄膜標準試料を入手するという一般的な問題を解決できます。Omnianオプションも利用できる場合は、Omnianの標準試料および校正をStratosに直接使用できます。
Virtual Analyst - メソッド開発を容易に実現
Stratosソフトウェアモジュールには、高度なメソッド開発をサポートするVirtual Analystが含まれています。Virtual Analystは、サンプル構造の定義に基づいており、サンプルの蛍光反応をシミュレートし、分析に最適な設定を提供します。これにより、これらの複雑なアプリケーションを設定するために試行錯誤して時間を浪費することがなくなります。
複雑なスタック用の高度なアルゴリズム蛍光モデル
Stratosでは、基本パラメータを使用して、各成分の理論的X線強度とサンプルからのコンプトン散乱強度の両方を計算します。次に、参照標準試料から測定された強度と相関して、計算の基礎となる重要な装置係数を取得します。不明なサンプルをキャラクタライズするには、存在する1つまたは複数の層に対して推定される組成を入力します。測定値との近似一致が得られるまで、微調整プロセスが繰り返し実行されます。
仕様
Stratosを使用すると、コーティング産業および包装産業向けの正確な厚さと組成を測定できます。Virtual Analystが提供する直感的なレシピ設定と、自動レポート機能を備えたプッシュボタン分析により、多層機能の最大化、校正の最小化、完全な柔軟性、使いやすさなどの主なメリットがあります。分析はオペレータの介入なしで実行され、データをLIMS、またはUAIを使用して工場ホストシステムに転送できます。結果は、元素のパーセンテージまたは質量の厚さとして表示されます。