Epsilon 4

장소의 제약이 없는 Epsilon 4

Epsilon 4는 설치 인프라 요건이 까다롭지 않아 어떠한 공정에서도 생산 라인 바로 옆에서 운용할 수 있습니다. 또한, 강력한 성능으로 대부분의 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있어 헬륨 또는 진공 유지를 위한 비용이 절감됩니다.

분석 이상의 가치

에너지 분산 X선 형광 분광기는 ppm 미만 수준부터 100wt% 범위의 농도를 가진 탄소(C)에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소의 분석이 가능합니다. 

무표준 분석에는 Omnian을, 분석 속도가 중요한 경우 재질 테스트용으로 FingerPrint를, 코팅과 표면층 및 다층 구조에 대한 신속하고 간단한 비파괴적 분석을 수행하려면 Stratos를 사용하십시오. 또한 FDA 21 CFR Part 11과 같은 규정 준수를 지원하는 Enhanced Data Security를 사용하거나, 미사용 및 기사용 윤활유에서 연료-바이오연료 혼합물의 정량 분석에는 Oil-Trace를 사용할 수 있습니다.

모든 종류의 샘플 분석 가능

Epsilon 4는 고체, 압착 및 가루 분말, 액체 및 필터를 포함한 다양한 유형의 샘플을 처리할 수 있습니다. 또한 샘플 중량이 밀리그램 단위에서 킬로그램 단위이고 100%에서 ppm 미만 수준의 농도를 가진 탄소(C) 및 불소에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소에 대해 비파괴 방식의 정량적 분석을 수행합니다.

Epsilon 4는 시멘트 생산, 채광, 광물질 선광, 철, 강철 및 비철금속, RoHS 스크리닝 및 정량화, 석유 및 석유화학, 고분자 및 관련 산업, 유리 생산, 법의학, 제약, 보건의료 제품, 환경, 식품 및 화장품 등을 포함하는 다양한 산업 및 응용 분야에서, 경원소 분석이 가장 중요한 경우에도 기존 시스템 대비 견고하고 신뢰성 있는 대안으로 활용할 수 있습니다.

유연성이 높은 구성

Epsilon 4는 연구개발에서부터 공정 관리에 이르기까지 원소 분석(F – Am)을 위해 10와트 버전에서 사용 가능한 유연성이 높은 분석 도구입니다. 더 높은 처리량 또는 더욱 다양한 경원소 분석 범위가 요구되거나 더욱 까다로운 환경인 경우 탄소, 질소 및 산소 분석도 가능한 15와트 버전도 사용할 수 있습니다.

최신 기술의 적용

Epsilon 4 기기는 최신 여기 및 검출 기술에 최첨단 분석 소프트웨어가 결합된 기기입니다. 15와트 X선 선관은 높은 전류(3mA)의 최신 실리콘 드리프트 검출기 SDD30 및 소형 광 경로 설계를 결합하여 50와트 전력의 EDXRF 또는 벤치톱 WDXRF 시스템보다 우수한 분석 성능을 제공하며 전력 효율도 더욱 향상되었습니다.

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다.

검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.

헬륨 소모량 감소

Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.