식품 및 환경 분석용 Epsilon 4

제품 품질에 높은 신뢰성 제공

인구 증가로 인해 지구의 자원을 더욱 효율적으로 사용해야 할 필요성이 커지고 있습니다. 에너지 분산 X선 형광(EDXRF) 분광기인 Epsilon 4는 작물 성장을 최대화하고 생산품 및 환경 안전성을 보장하기 위해 유용한 원소 정보를 제공하는 강력한 분석 도구입니다.

최신 여기 및 검출 기술을 적용한 Epsilon 4는 기존에 ICP 및 AAS을 사용했던 까다로운 응용 분야에서 새로운 가능성을 열었습니다. ICP에서 EDXRF로 전환할 경우 필요한 소모품, 유틸리티 및 시간을 크게 절감할 수 있습니다.

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개요

Epsilon 4는 가축 사료의 영양 성분을 조절하여 소들을 건강하게 사육하고 분뇨의 온실가스를 최소화하는 데 사용할 수 있습니다. 이 밖에 대기(EPA IO3-3) 중에 포함된 입자 물질 또는 식품의 영양소 및 염류 성분의 원소 조성 모니터링에도 사용됩니다. ISO 18227, ISO 15309 및 ASTM C1255에 따라 토양과 비료를 분석하여 성장 조건을 최적화하고 독성 원소가 없는지 여부를 확인할 수 있습니다.
아래 그림은 한 번의 적절한 비용 투자로 Epsilon 4를 통해 부가적으로 얻을 수 있는 가치를 보여줍니다.

Food and environment touchpoints.jpg

특징

벤치톱 XRF의 장점

최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.

벤치톱 XRF의 장점

낮은 운용 비용

  • 고가의 산성 물질 불필요
  • 액체 질소 불필요
  • 샘플 준비 불필요. 샘플을 직접 분광기 안에 넣기만 하면 됩니다.
  • 고가의 표준 물질(공기 필터 등)이 분석 후에도 손상되지 않기 때문에 품질 관리 또는 검증용 샘플로 재사용할 수 있습니다.
  • 고품질의 X선 선관 및 실리콘 드리프트 검출기를 사용하기 때문에 유지관리 필요성 감소
낮은 운용 비용

정확한 결과

  • Epsilon 소프트웨어의 강력한 디콘볼루션 알고리즘을 통해 XRF 스펙트럼에서 원소의 피크가 서로 겹치는 경우에도 정확한 결과를 제공합니다.
  • Epsilon 소프트웨어의 블랭크 제거(blank subtraction) 기능은 서로 다른 뒷면 베이스 재질을 사용하는 공기 필터 분석 시 유연성과 정확성을 제공합니다.
  • 측정 중 샘플이 계속 회전하기 때문에 비균질성으로 인해 발생할 수 있는 오류를 최소화하여 더 정확한 결과를 얻을 수 있습니다.
정확한 결과

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다.

검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

헬륨 소모량 감소

Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.

헬륨 소모량 감소

사양

샘플 처리 X선관 검출기 소프트웨어
10개 위치의 탈착식 샘플 교체기 금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공 고분해능 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 일반적으로 135eV @ Mn-Kα Omnian 무표준 분석 솔루션을 사용한 원소 스크리닝
분광기에 최대 52mm 직경의 샘플(고체, 액체, 고체 및 공기 필터) 수용 가능 경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창 최대 50% 불감 시간(dead time)에서 1,500,000회/s의 계수율 FingerPrint 솔루션을 통한 통과/실패 분석
액체 및 고체에 대한 더 정확한 결과를 얻기 위해 스피너 포함 P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관 높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창 FDA 21 CFR Part 11 요건을 만족하는 고급 데이터 보안을 위한 감사 추적 소프트웨어 옵션

악세서리

표준(참조 물질)

Omnian

광범위한 물질에 대한 무표준 원소 분석을 위한 Omnian.
Omnian

CRM

Claisse는 항상 여러분의 필요를 충족시키기 위해 존재합니다!
CRM

소프트웨어

Epsilon 소프트웨어

Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 탁상용 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다.

Epsilon 소프트웨어

Omnian

Omnian 소프트웨어를 사용하면 전용 분석법이나 인증된 표준물질이 없더라도 가장 최적의 분석을 수행할 수 있습니다.

Omnian

FingerPrint

Epsilon EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 물질 테스트에 이상적입니다.

FingerPrint

지원팀

서비스

투자 수익 극대화를 위한 솔루션

장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

지원팀

평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실 간 연구를 통한 운영
  • 연구실 공정 자동화
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
  • 산화물 및 미량 분석
  • 맞춤형 교정 물질

주요 응용 분야

Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다.

샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.

  • 고체
  • 압축 분말
  • 가루 분말
  • 액체
  • 용융 비드
  • 슬러리
  • 과립
  • 필터
  • 필름 및 코팅