특징
층상 참조 재료의 필요성 감소
Stratos 패키지의 뛰어난 장점은 기존 벌크 XRF 표준 또는 참조 샘플을 사용하여 교정된 기기를 통해 뛰어난 결과를 얻을 수 있다는 것입니다. 이들 샘플의 조성 및 층 구조는 알려지지 않은 샘플과는 다릅니다. 이 방법은 반도체 웨이퍼 및 도금 금속 분석 시 발생하는 생산 샘플과 일치하는 고가의 인증 박막 표준 획득의 일반적인 문제를 해결합니다. Omnian 옵션이 있는 경우 Omnian의 표준 및 보정을 Stratos에 직접 사용할 수 있습니다.
Virtual Analyst - 용이한 방법 개발
Stratos 소프트웨어 모듈에는 고급 방법 개발을 위한 컨설턴트 역할인 Virtual Analyst가 포함되어 있습니다. Virtual Analyst는 샘플 구조의 정의를 기반으로 샘플의 형광 반응을 시뮬레이션하고 최적의 분석 설정을 제공하므로 복잡한 응용 프로그램을 설정하는 데 시간이 많이 걸리는 실험 및 시행착오를 없앨 수 있습니다.
복잡한 스택을 위한 고급 알고리즘 형광 모델
Stratos는 기본 매개변수를 사용하여 샘플에서 각 성분에 대한 이론적 X선 강도 및 Compton 산란 강도를 계산합니다. 그런 다음 계산 기준을 형성하는 필수 기기적 요인을 얻기 위해 기준 표준으로부터 측정된 강도와 상관 관계를 구합니다. 알려지지 않은 샘플의 특성을 규정하기 위해 존재하는 한 개 이상의 층에 대해 예상 조성을 입력합니다. 측정된 값을 사용하여 근사값에 도달할 때까지 반복적인 상세화 과정을 반복합니다.
사양
Stratos는 코팅 및 포장 산업에서 정확한 두께 및 조성 측정을 가능하게 합니다. 주요 장점으로는 극대화된 다층 기능, 최소화된 교정 비용, 완벽한 유연성 및 사용 용이성 등이 있습니다. Virtual Analyst의 지원을 통해 직관적인 레시피 설정이 가능하고 자동 보고 기능을 통한 푸시 버튼 분석을 활용할 수 있습니다. 작업자 개입 없이 분석을 실행할 수 있으며 데이터를 LIMS로 전송하거나 UAI를 사용하여 공장 호스트 시스템으로 전송할 수 있습니다. 결과는 원소 비율 또는 질량 두께로 표시됩니다.