X 光散射

SAXS  是功能最多樣化的工具之一，可分析各種樣本類型 (液體、粉體、固體、凝膠等) 的奈米尺度結構和尺寸。樣本可以是非晶形、晶體或半結晶物質。 

一般可使用 SAXS 進行研究的樣本包括膠體分散液、界面活性劑、聚合物、生物巨分子、薄膜、奈米複材、奈米粉末及多孔材料。異向性奈米尺度結構的定向可透過測量 2D SAXS 圖型進行研究。

將小角度 X 光散射應用於稀釋蛋白質溶液的方法不僅受到認可，更成為發展迅速的結構生物學技術。此種技術可提供各種相關資訊，例如整體的蛋白質大小和形狀、摺疊和展開、聚集行為、穩定性及分子量。 

測量不僅可在近乎原生的條件下進行，也可以在蛋白質濃度、pH、離子強度或溫度有變化的情況下進行。 

最後，SAXS 還能用於重建低解析分子形狀套膜，並提供與得自單晶體 XRD 或 NMR 的資訊相輔相成的相關資訊。

對於含有顆粒或結構特徵且大小在數百奈米範圍內的樣本特性分析，傳統 SAXS 儀器設備的解析度已不敷使用。 

不過，如果使用以高解析光學元件為基礎的實驗儀器設備，就能達成超小角度解析度。 

根據在較高的角度測量而得的散射圖型，即能辨識並量化給定樣本中存在的結晶相，同時還能估計奈米微晶體的大小。 

聚合物等異向性結構中的晶格定向也可從 2D WAXS 圖型推斷得到。

全散射採用硬性輻射及可掃描至極高 2θ 角的偵測器而能獲得最高的可能散射向量之散射數據。

從推導出來的原子對分佈函數 (PDF)，即可推算出奈米晶體及無序材料中的短程原子有序。

GISAXS (低掠角小角度 X 光散射)  可用於研究薄膜中的奈米結構。表面靈敏度來自於使用低掠角射束幾何的技術。 

從測量得出的 X 光反射率曲線即可判斷多層薄膜的厚度、介面和表面粗糙度以及電子密度。 

結合 USAXS 與 SAXS/WAXS 以及 PDF 的測量可在多種長度尺度上分析階層式結構的特性，並能涵蓋從次埃到微米的布拉格間距。