Aeris
準備好對我們高精度、快速的 XRD 系統感到驚訝。不到五分鐘即可得出精確結果。
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Download now马尔文帕纳科 X 射线衍射仪用于获取高质量的衍射数据,它结合了易用性与快速切换到其他应用的灵活性。
我們的晶體取向解決方案在設計時考慮了晶錠、晶錠、圓盤和晶圓應用。
我們的晶體取向解決方案系列在設計時考慮了晶錠、晶圓和晶體應用。使用我們的儀器,可以在各種環境中輕鬆確定晶體取向 - 從線上分析到桌面研究,我們都能滿足您的要求。
Aeris邁向精巧化 |
Empyrean 系列滿足您各種分析需求的多功能 X 光繞射儀 |
X'Pert³新一代的 X’Pert 平台 |
Crystal orientation 系列快速且準確地定位晶圓和晶錠 |
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技術類型 | ||||
X光繞射(XRD) | ||||
量測類型 | ||||
顆粒形狀 | ||||
顆粒尺寸 | ||||
晶體結構測定 | ||||
相鑑定 | ||||
相定量 | ||||
汙染物偵測和分析 | ||||
磊晶分析 | ||||
界面粗糙度 | ||||
3D結構/影像 | ||||
薄膜測量 | ||||
殘餘應力 | ||||
Crystal orientation | ||||
Cleanroom ISO 4 | ||||
SECS/GEM |