马尔文帕纳科 X 射线衍射仪用于获取高质量的衍射数据,它结合了易用性与快速切换到其他应用的灵活性。
Aeris
準備好對我們高精度、快速的 XRD 系統感到驚訝。不到五分鐘即可得出精確結果。
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我們新設計的多核心光學元件可以實現最廣泛的測量,無需任何手動幹預。
新一代 X'Pert³ 延續了我們材料研究衍射儀悠久而成功的歷史。
我們的晶體取向解決方案在設計時考慮了晶錠、晶錠、圓盤和晶圓應用。
![]() AerisCompact X-ray diffractometer |
![]() Empyrean 系列Multipurpose X-ray diffractometer |
![]() X'Pert³Thin Film Analysis XRD Systems |
![]() Crystal orientation rangeFast and accurate orientation of wafers and ingots |
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技術類型 | ||||
X光繞射(XRD) | ||||
量測類型 | ||||
顆粒形狀 | ||||
顆粒尺寸 | ||||
晶體結構測定 | ||||
相鑑定 | ||||
相定量 | ||||
汙染物偵測和分析 | ||||
磊晶分析 | ||||
界面粗糙度 | ||||
3D結構/影像 | ||||
薄膜測量 | ||||
殘餘應力 | ||||
Crystal orientation | ||||
Cleanroom ISO 4 | ||||
SECS/GEM |