顆粒大小分析儀
我們世界一流的一系列顆粒大小分析儀可協助您最大化產能,並助您以更快速度開發更優質的產品。
我們世界一流的一系列顆粒大小分析儀可協助您最大化產能,並助您以更快速度開發更優質的產品。
我們提供各式各樣的 X 光螢光光譜儀以及分析元素及薄膜厚度的相關產品。
我們的 XRD 解決方案適用於多種環境,從大學、研究機到工業製程控制實驗室皆可用。
近紅外光譜儀和光譜輻射計
便攜式光譜儀和手持式替代品
輕鬆進行樣品製備,實現準確的 XRF 分析
降低行業成本並優化質量
世界上最廣泛應用的奈米顆粒、膠體及生物分子顆粒尺寸與電荷的測量系統
測量粒徑的智慧方法
快速準確的在線 (at-line) 與線上 (on-line) 元素分析
滿足您各種分析需求的多功能 X 光繞射儀
一種非破壞性技術,用於研究所有類型的材料
動態光散射可用於蛋白質、奈米顆粒、聚合物和膠狀分散體的粒徑特性
視覺化並測量顆粒大小及濃度
X 光螢光光譜技術與 XRF 應用
知識的交流能加速推動科學發展。我們提供一系列符合您需求的網路研討會、講座和培訓課程,藉由與專家的溝通交流,幫助您在面臨新挑戰時,可善用不斷精進的技術能力以及全新的思路,獲得完美的解決方案。
我們的願景是讓世界更乾淨、更健康、更有效率。深入了解我們的科學儀器怎麼幫助使用者更深入地解析材料及優化製程,從蛋白質、金屬、聚合物到我們周圍的土壤和空氣,在各個領域都能發現我們的足跡。我們的部落格內容包含熱門話題、客戶案例、產業洞悉和技術培訓等相關最新資訊,協助您了解產業現況。
Introduction Malvern Panalytical’s Wafer XRD 200 redefines efficiency in the wafer’s crystal orientation. In our latest video, Dirk Kok, Application Specialist, explains how this advanced diffractometer combines speed, accuracy, and versatility to meet the demands of high-volume semiconductor manufacturers. What Does the Wafer XRD 200 Do? The Wafer XRD 200 is a high-throughput crystal orientation […]
Ask an Expert webinars are always highlights of our year – giving us the chance to host leading and up-and-coming researchers to learn more about their research and the analytical techniques they use. Read on for a quick recap of this year’s Ask an Expert webinars, featuring experts at the cutting edge of semiconductors, advanced […]
X-ray diffraction (XRD) is vital in manufacturing lithium-ion battery cathode materials because it ensures the correct crystal structure, phase, and purity, essential for battery performance. XRD detects phase composition, cation mixing, crystallite size, and strain—all crucial factors affecting capacity, stability, and cycle life. This non-destructive technique is used in quality control to verify material specifications […]