XRF 分析儀

XRF 分析儀是一款多用途儀器，以其精確、非破壞性的元素分析能力而聞名。這些分析儀可提供多種測量和深入見解，對許多產業領域皆能帶來極大助益。

XRF 儀器的主要功能是元素定量。藉由讓樣品暴露於高能量 X 光下，XRF 分析可精準測量樣品內的元素濃度。 

此定量功能可於測量多種元素，從碳和氧等輕元素到鉛和鈾等重金屬皆能因應。研究人員、製造人員和品管專業人員都仰賴 XRF 機器來取得準確的元素資料。

XRF 分析的其中一項傑出特性，是它的非破壞性。ICP 等傳統化學分析方法時常需要破壞/溶解樣品，使這些樣品失去後續測試或保存的價值。 

然而，XRF 光譜儀可讓您在不改變或破壞材料的情況下執行檢驗。此特性可在分析珍貴藝術品、歷史文物或無可替代的地質樣品時帶來極大助益。

XRF 分析儀具有優異的多元素分析能力。它們可同時偵測並量化單一樣品中的多元素，提供全面性的成分資訊。 

在處理具有多種元素成分的複雜材料、合金或地質樣品時，此功能所帶來的優勢格外顯著。

XRF 分析儀器不受限於特定類型的材料。它們可以分析多種樣品類型，包括：

• 固體：金屬、合金、聚合物、陶瓷、礦物和地質樣品。
• 液體：溶液、漿體，甚至油品。
• 粉末：藥物粉末、粉末金屬等。

多用途的特性讓 XRF 機器可應用於多種產業，包括製造業、製藥乃至地質學和環境科學等領域。

XRF 分析儀可測量多種元素，包括但不限於：

• 鐵、銅、鋁等常見金屬。
• 金、銀和白金等貴金屬。
• 鉛、砷和汞等環境汙染物。
• 釹和銪等稀土元素。

無論您是要分析材料特性、確保產品品質或進行科學研究，XRF 光譜儀對於許多產業都是不可或缺的元素分析工具。

Malvern Panalytical 提供各式各樣的 X 光螢光光譜儀，以及元素和薄膜分析的相關產品。這些 XRF 分析儀適用於多種分析、通量要求和作業環境。光譜儀包括能量分散式桌上型 XRF 系統和波長分散式高效能 XRF 系統，以及半導體測量相關產品。

XRF 分析儀可透過專用的軟體選項進行設定，提供特定類型的 X 光螢光光譜分析。它能結合各式應用模組 (應用設定、校準和標準) 或作為樣品製備產品套件的一部分使用，實現完整的分析解決方案。所有 Malvern Panalytical 產品皆受到我們的售後和客戶服務組織之支援。

您可參閱我們的知識中心，深入瞭解我們的光譜儀可支援哪些 XRF 應用。