완전히 알려지지 않은 샘플의 경우, 또는 교정 표준이나 참조 물질을 쉽게 또는 전혀 이용할 수 없는 경우, 무표준 XRF 분석이 유용한 솔루션입니다. Omnian을 사용하면 전용 XRF 기법이나 인증된 표준이 존재하지 않는 상황에서도 가능한 최고의 분석을 수행할 수 있습니다. Zetium, Axios 또는 MagiX 및 Epsilon 탁상용 XRF 제품군에 사용할 수 있는 Omnian은 시료 유형 또는 매트릭스와 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.
Omnian을 이용한 원소 분석
Omnian은 F에서 U까지의 모든 원소를 포괄합니다. 가압성형 분말, 융합 비드, 가루 분말 및 액체 등의 다양한 샘플 유형에 대한 정량 결과를 얻을 수 있습니다. Omnian은 일상적인 시료의 원소 분석 외에도 "1개" 시료, 스크리닝 및 고장 분석을 쉽고 빠르게 할 수 있습니다.
빠른 평가를 위해 Omnian은 고속 스캔 모드를 사용하는 WD XRF 시스템에서 가능한 2분 이내에 신뢰할 수 있는 결과를 제공합니다. 스캔 전략에서만 생성할 수 있는 정확한 배경 계산을 통해 특정 원소 피크 측정의 시간 절약 전략을 결합하여 신뢰성 있는 결과를 보장할 수 있습니다. 소량 및 흔적 원소 분석에 높은 정밀도가 필요한 경우 스캔 기반 프로그램은 특정 채널을 통해 증강할 수 있습니다.
Omnian 모듈
Omnian 모듈은 소프트웨어 및 설정 시료의 조합입니다. 설정 샘플은 가장 까다로운 매트릭스도 분석할 수 있도록 세심하게 설계되었습니다. 순수 출발 물질로 제작된 설정 시료를 사용하여 Omnian 소프트웨어를 분광기에 대해 미세 조정하는 동시에 다른 반정량적 전략의 한계를 극복하는 데 사용되는 스펙트럼 원소 기능과 결합합니다.
Omnian 모듈 구성 요소:
- 설정 샘플 및 드리프트 모니터 샘플 제품군
- 설정 샘플의 농도, 사용 및 취급 정보를 포함한 문서
- 안전한 보관을 위한 보관 케이스
Omnian 모듈 및 셋업 샘플은 Zetium, Axios 또는 MagiX와 Epsilon 탁상용 제품군을 비롯한 Malvern Panalytical 장비와 함께 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 특정 하드웨어 요구 사항이 적용됩니다. 이 모듈은 새 시스템과 함께 사전 조정될 수 있지만 SuperQ 소프트웨어를 실행하는 기존 기기에 설치할 수도 있습니다. 또한 Omnian 설정 샘플도 별도로 사용할 수 있습니다.