X선 형광(XRF) 분광기는 다양한 물질의 원소 조성을 밝히도록 설계된 강력한 분석 기기입니다. 이러한 다목적 기기는 과학 연구, 품질 관리 및 산업 응용 분야에서 중추적인 역할을 합니다.
XRF 분석기는 원소 분석에서 탁월한 성능을 발휘합니다. 방출된 X선의 에너지와 강도를 측정함으로써, 어떤 원소가 어떤 농도로 존재하는지 식별합니다. 이 정보는 원소 조성에 대한 지식이 중요한 지질학, 야금, 고고학 및 환경 과학 등의 분야에서 매우 유용합니다.
XRF 분석기는 정밀한 비파괴 원소 분석을 제공하는데 탁월한 다목적 기기입니다. 이러한 분석기는 다양한 측정 및 통찰력을 제공하므로 다양한 분야에 매우 유용합니다.
XRF 기기의 주요 기능은 원소 정량화입니다. XRF 분석기는 샘플을 고에너지 X선에 노출하여 해당 샘플 내 원소의 농도를 정밀하게 측정할 수 있습니다.
이 정량화는 탄소 및 산소와 같은 경원소에서 납 및 우라늄과 같은 중금속까지 주기율표 전반에 적용됩니다. 연구자, 제조업체 및 품질 관리 전문가들은 정확한 원소 데이터를 얻기 위해 XRF 장비를 사용합니다.
XRF 분석의 두드러진 특징 중 하나는 비파괴적 특성입니다. ICP와 같은 기존 화학 분석 방법은 샘플의 파괴/용해가 필요하므로 해당 샘플을 추가 테스트 또는 보존에 사용할 수 없는 경우가 많습니다.
그러나 XRF 분광기를 사용하면 물질을 변경하거나 손상하지 않고 검사할 수 있습니다. 따라서 XRF 분광기는 귀중한 예술 작품, 역사적 유물 또는 대체할 수 없는 지질학적 샘플을 분석하는 데 매우 유용합니다.
XRF 분석기는 다중 원소 분석에서 탁월한 성능을 발휘합니다. 단일 샘플에서 여러 원소를 동시에 검출하고 정량화할 수 있어 조성에 대한 포괄적인 그림을 제공합니다.
이 기능은 복잡한 물질, 합금 또는 다양한 원소 성분이 포함된 지질학적 샘플을 다룰 때 특히 유용합니다.
XRF 분석 기기는 특정 유형의 물질에만 국한되지 않습니다. 다음과 같은 다양한 샘플 유형을 분석할 수 있습니다.
이러한 다목적성을 갖춘 XRF 장비는 제조 및 제약에서 지질학 및 환경 과학 분야에 이르기까지 다양한 산업에 적용될 수 있습니다.
XRF 분석기는 다음을 비롯한 다양한 원소를 측정할 수 있습니다.
물질의 특성 분석, 제품 품질 보장, 과학 연구 수행 등 어떤 작업을 수행하든 XRF 분광기는 다양한 산업 분야의 원소 분석에 필수적인 도구입니다.
Malvern Panalytical에서는 원소 및 박막 두께 측정용 X선 형광 분광기 및 관련 제품을 다양하게 제공합니다. 이러한 XRF 분석기는 다양한 분석 및 처리량 요구 사항 및 운영 환경에 적합합니다. 에너지 분산형 탁상용 XRF 시스템부터 고성능 파장 분산형 XRF 시스템과 반도체 측정 제품까지 다양한 분광기가 있습니다.
XRF 분광기는 특정 유형의 X선 형광 분석을 위해 전용 소프트웨어 옵션으로 구성할 수 있습니다. 애플리케이션 모듈(애플리케이션 구성, 보정 및 표준)과 결합하거나 샘플 준비 제품과 함께 패키지로 사용하면 종합적인 분석 솔루션이 완성됩니다. 모든 Malvern Panalytical 제품은 A/S 및 고객 서비스 조직에서 지원을 제공합니다.
지식 센터에서 당사의 분광기를 사용할 수 있는 흥미로운 XRF 응용 분야에 대한 자세한 정보를 확인할 수 있습니다.
Revontium뛰어난 성능, 강력한 분석, 무한한 가능성을 갖춘 소형 기기 |
Zetium구성요소의 탁월함 |
Epsilon 시리즈신속하고 정확한 앳라인 및 온라인 원소 분석 |
Epsilon Xflow생산 공정에 대한 직접적인 통찰력 |
2830 ZT고급 반도체 박막 계측학 솔루션 |
Axios FAST고속 샘플 처리 |
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측정 유형 | ||||||
박막 계측학 | ||||||
원소 분석 | ||||||
오염물 검출 및 분석 | ||||||
원소 정량화 | ||||||
입자의 화학적 성분 | ||||||
기술 유형 | ||||||
X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
원소 범위 | ||||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
해상도(Mg-Ka) | ||||||
샘플 처리량 | ||||||
Format | Compact | Floorstanding WDXRF | Benchtop EDXRF | Realtime | Semi | Floorstanding WDXRF |