Epsilon 소프트웨어
Epsilon 시스템용 Analytical EDXRF 소프트웨어 패키지. 최소한의 교육만 받으면 장비 사용 경험이 없는 직원도 쉽게 일일 XRF 분석을 수행할 수 있습니다.
개요
- 비파괴 인라인 프로세스 제어 - 시료 채취 불필요
- 다양한 스캐닝 모드로 연속 패치 및 다중 레인 코팅 공정을 수용할 수 있습니다.
- 표준 통신 프로토콜을 통해 생산 공정에 쉽게 통합할 수 있습니다.
- 백금, 세륨 등 귀중한 관심 원소를 측정할 수 있습니다.
- 뛰어난 정밀도로 얇은 층을 측정할 수 있습니다.
- 다양한 롤 폭을 수용합니다.
- 측정 헤드를 생산 라인의 모든 방향으로 호버링하여 최적의 거리 제어를 제공하는 특허받은 독보적인 로봇 팔입니다.
연료 전지 생산의 과제 해결
백금 촉매가 전체 연료 전지 비용의 20% 이상을 차지하므로 균일한 분산과 일관된 레이어링을 통해 촉매 코팅을 최적화하는 것이 필수적입니다. 빠르고 정확한 공정 모니터링이 이상적인 솔루션입니다! Epsilon Xline은 효율적인 작동 제어를 용이하게 하여 다음과 같은 이점을 제공합니다.
- 규격 외 생산 최소화
- 귀중한 백금 낭비 방지
- 비용 경쟁력 있는 최종 제품 생산
특징
- 완전 인라인 자동화 . 다양한 박막 및 코팅 응용 분야에 적합한 Epsilon Xline의 원활한 통합 기능으로 지속적인 R2R 생산이 가능합니다.
- 편의성 및 안전성 . Epsilon Xline은 휴대용 기기나 기존 기기와 달리 X선에 완벽하게 안전하고 사용하기 쉬우며 매우 정확한 분석 데이터를 제공합니다.
- 전문가의 노하우 . Malvern Panalytical의 원소 분석 분야에서 70년 이상의 경험을 바탕으로 Epsilon Xline은 업계 파트너와 협력하여 오늘날의 요구를 충족하는 동시에 업계의 미래를 함께 모색하기 위해 개발되었습니다.
- 수율 극대화 . 운영 중단 없이 실시간 모니터링을 통해 비용 경쟁력 있는 생산을 달성하여 운영을 최대한 활용하는 데 필요한 직접적인 통찰력과 제어를 제공합니다.
- 최적의 재료 효율 . 업계 표준 솔루션으로 불일치를 제거하고 귀중한 재료를 낭비하지 않으며 고품질 제품을 보장합니다.
- 특허받은 입증된 정확성 . 고객과 함께 개발하고 테스트한 Epsilon Xline은 정확한 결과를 위해 안정적인 분석을 보장하는 특허 받은 높이 보정 기술을 갖추고 있습니다.
검증된 기술
공정 내 원소 분석
X선 형광(XRF)은 촉매막 코팅 공정 중 시료 채취나 화학적 또는 물리적 변화없이 인라인 모니터링을 가능하게 하는 비파괴 원소 분석 기술입니다.
실시간 인라인 분석을 통해 다수의 공정 매개변수와 제품 특성을 신속하게 최적화할 수 있습니다.
높아진 측정 정확도와 반복성, 유지보수 비용 절감
Epsilon Xline과 Epsilon 기기 시리즈 전체에서 사용되는 입증되고 견고한 기술은 여기(excitation) 및 검출(detection) 기술의 최신 발전을 기반으로 합니다. 잘 설계된 광학 경로, 경원소와 중원소에 대한 광범위한 여기 기능 및 빠르고 해상도가 높은 SDD 검출기 시스템을 통해 Epsilon Xline의 성능을 강화했습니다. 이러한 혁신의 결과로 유지보수에 필요한 비용은 줄어들고, 반복성과 정확성 높은 결과를 얻을 수 있습니다.
사양
| 샘플 처리 | |
|---|---|
| 시료 유형 | 코팅 라인 |
| 코팅 유형 | 연속, 레인, 패치 |
| 라인 속도 연속 코팅 | 최대 30m/분 |
| 라인 속도 패치 코팅 | 최대 11m/분 |
| X선관 | |
| 유형 | 금속 세라믹 사이드 창 |
| 양극 재질 | Ag |
| 튜브 설정 | 소프트웨어 제어, 적용 가능한 전압 4~50kV, 최대 3mA, 최대 관 전력 15W |
| 튜브 필터 | 6개, 소프트웨어 선택 가능(Cu 300µm, Cu 500µm, Al 50µm, Al 200µm, Ti 7µm, AG 100µm |
| Window 두께 | 50µm(Be) |
| 검출기 | |
| 유형 | 고해상도 Si 드리프트 검출기 SDD10 |
| Window | 8µm(Be) |
| 해상도 | < 145eV @ 5.9keV/1,000cps
일반적으로 135eV @ 5.9keV/1,000cps |
| 안전 표준 | |
| 방사선 | 외부 표면의 10cm 지점에서 < 1µSv/h |
내장형 연결 기능
내장된 OPC 연결을 통해 Epsilon Xline을 생산 라인에 원활하게 통합할 수 있습니다. 포함된 전용 소프트웨어 패키지로 다양한 재료 및 측정 모드에 맞게 Epsilon Xline을 간단하게 설정할 수 있습니다. 명령을 기기에 직접 입력하거나 원격 콘솔을 통해 간편하게 사용할 수 있는 인터페이스가 전체 추적 데이터의 개요를 표시합니다.
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