Die Röntgenfluoreszenzanalyse, auch RFA genannt, ist eine Analysemethode, das zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung unterschiedlichster Probentypen eingesetzt werden kann. Hierzu gehören Feststoffe, Flüssigkeiten, Suspensionen und lose Pulver. Die Röntgenfluoreszenzanalyse wird auch zur Bestimmung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten und Beschichtungen eingesetzt. Es können Elemente von Beryllium (Be) bis Uran (U) in Konzentrationsbereichen von 100 Gew.-% bis hin zur Sub-ppm-Ebene analysiert werden.
Die RFA ist eine Atom-Emissionsmethode, die in dieser Hinsicht der optischen Emissionsspektroskopie (OES), der Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP) und der Neutronenaktivierungsanalyse (Gamma-Spektroskopie) ähnelt. Bei solchen Methoden werden die Wellenlänge und die Intensität von „Licht“ (in diesem Fall Röntgenstrahlen) gemessen, das von energetisierten Atomen in der Probe emittiert wird.
Bei der RFA verursacht die Strahlung durch einen primären Röntgenstrahl aus einer Röntgenröhre die Emission von fluoreszierenden Röntgenstrahlen mit diskreten Energiemerkmalen der in der Probe vorhandenen Elemente.
Abbildung rechts: Beispiel für den Röntgenfluoreszenzprozess (RFA): 1) Eingehendes Photon 2) Charakteristisches Photon.
Die RFA ist ein vielseitiges Analyseverfahren, das über viele Branchen und wissenschaftlichen Bereiche hinweg Anwendung findet. Ihre Anpassungsfähigkeit und Präzision machen sie zu einem unverzichtbaren Werkzeug zum Verstehen und Manipulieren der Elementarzusammensetzung von Materialien. Von der Unterstützung bei der materiellen Identifizierung und Qualitätskontrolle in der Industrie bis hin zur Erhaltung des kulturellen Erbes und der Förderung wissenschaftlicher Forschung spielt die RFA weiterhin eine zentrale Rolle bei der Verbesserung unseres Verständnisses der elementaren Welt.
RFA wird häufig in der Qualitäts- und Prozesssteuerung eingesetzt. Benutzer können schnell genaue und präzise Ergebnisse mit begrenztem Aufwand für die Probenvorbereitung erhalten, und die Methode lässt sich problemlos für den Einsatz in industriellen Umgebungen mit hohem Durchsatz automatisieren. Die Präzision und die zerstörungsfreie Natur der RFA machen sie zu einem wertvollen Werkzeug für die Qualitätskontrolle in verschiedenen Fertigungsbereichen, wie z. B.:
Die RFA spielt eine zentrale Rolle in der Materialforschung und -entwicklung:
Auch im pharmazeutischen und medizinischen Bereich hat die RFA vielfältige Anwendungen:
Von der Probenvorbereitung bis zur Ergebnisberichterstattung unterstützen wir Sie beim Aufbau Ihres idealen Arbeitsablaufs, um Ihre Anforderungen an die Elementaranalyse zu erfüllen .
Die RFA ist ein robustes Verfahren, das hohe Präzision und Genauigkeit mit einfacher, schneller Probenvorbereitung vereint. Sie kann für den Einsatz in Hochdurchsatz-Umgebungen leicht automatisiert werden. Darüber hinaus liefert die RFA sowohl qualitative als auch quantitative Informationen zu einer Probe.
Das für die Trennung (Dispersion), Bestimmung und Intensitätsmessung eines Röntgenfluoreszenzspektrums eingesetzte Verfahren führt zu zwei Haupttypen von Spektrometern: wellenlängendispersive (WDRFA) und energiedispersive (EDRFA) Systeme.
Wir bieten eine breite Palette an Röntgenfluoreszenzlösungen zur Analyse der Elementarzusammensetzung einer Vielzahl von Materialien und Anwendungen, die sowohl wellenlängendispersive als auch energiedispersive Lösungen umfassen. Entdecken Sie unser Lösungsportfolio in der folgenden Tabelle.
Unsere RFA-Softwarepakete können Sie darin unterstützen, den maximalen Nutzen aus Ihren RFA-Geräten zu ziehen. Unser Engagement für Spitzenleistungen bedeutet, dass unsere Software ständig weiterentwickelt wird. Wir investieren in Forschung und Entwicklung, um auf dem neuesten Stand der RFA-Analysetechnologie zu bleiben und sicherzustellen, dass Sie Zugang zu den neuesten Entwicklungen und Funktionen haben.
RevontiumKompakte Brillanz, leistungsstarke Analyse, unendliche Möglichkeiten |
ZetiumElementare Leistung |
Epsilon-SerieSchnelle und genaue Elementaranalyse – vor Ort und online |
Axios FASTHoher Probendurchsatz |
2830 ZTFortgeschrittene Lösung für die Halbleiter-Dünnschicht-Messtechnik |
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Typ der Messung | |||||
Dünnschicht-Messtechnik | |||||
Elementaranalyse | |||||
Erkennung und Analyse von Verunreinigungen | |||||
Quantifizierung von Elementen | |||||
Chemische Identifikation | |||||
Technologie | |||||
Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (WDRFA) | |||||
Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA) | |||||
Elementbereich | |||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Auflösung (Mg-Ka) | |||||
Probendurchsatz |