Produktpalette für Kristallausrichtung

Schnelle und genaue Ausrichtung von Wafern, Säulen und anderen einkristallinen Proben

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Ein Kristall besteht aus einem sich wiederholenden Muster von Atomen. Das bedeutet, dass sich die Struktur eines Kristalls aus der Perspektive eines Elektrons/Photons, das in einen Kristall eindringt, je nach dem Winkel, in dem wir in diesen Kristall blicken, ändert. Wir könnten einen Kanal sehen, der sich durch das gesamte Kristallmaterial erstreckt, oder nur die oberen drei Schichten des Materials. Daher können die Materialeigenschaften je nach Winkel sehr unterschiedlich sein. Eine gute Kontrolle der Materialeigenschaften erfordert eine gute Kontrolle der Kristallausrichtung.

Dies ist ein wichtiger Prozess bei der Ionenimplantation, Lithographie und Epitaxie, aber auch bei der Herstellung von Laser- oder optischen Komponenten.

Die Produktpalette für Kristallausrichtung basiert auf dem Azimut-Scan. Dies ist eine intelligente Technologie für die geometrische Messung der Ausrichtung von Kristallen. Das bedeutet, dass nicht nur die Neigung der Hauptachse, sondern auch alle ebenen Richtungen in nur 10 Sekunden erfasst werden können. Mit den Geräten kann fast jede Form gemessen werden, solange es sich dabei um einen einzelnen Kristall handelt, wie z. B. Wafer, Barren, Säulen, Pucks usw.

Unsere hochpräzisen Kristallausrichtungssysteme sind besonders für industrielle Anwendungen wie die Herstellung von Einzelkristallen oder Wafern, für Forschungszwecke, aber auch für die Qualitätskontrolle der Wafer und anderer Geräte entwickelt worden. 

Sie bieten einfache und schnelle Messungen der Kristallausrichtung, sodass die gewünschten Eigenschaften für die nächsten Verarbeitungsschritte zur Verfügung stehen.

DDCOM

Ultra-fast, bottom surface measuring crystal orientation in a compact package

Zu den Funktionen gehören

  • Benchtop device
  • Higher throughput due to no height alignment
DDCOM

SDCOM

Ultra-fast, flexible, top surface measuring crystal orientation in a compact package

Zu den Funktionen gehören

  • Benchtop device
  • Outstanding accuracy, fit for samples from 2 mm² up to 300 mm Ø wafers
SDCOM

Omega/Theta

Fully automated vertical three-axis X-ray diffractometer for ultra-fast crystal orientation

Zu den Funktionen gehören

  • As fast as 10 seconds per full crystal measurement
  • Higher throughput and outstanding accuracy compared to conventional systems
  • Flexible with accessories for marking, mapping, alignments for transfers of all single crystalline materials
Omega/Theta

Wafer XRD 200

Fast, precise and fully equipped solution for wafer orientation and sorting

Zu den Funktionen gehören

  • High capacity wafer metrology; full cassette of 25 wafers measured in less than 10 minutes
  • Optimal for Wafer Production: measure crystal orientation, recognize wafer ID, flat/notch and shape of wafer edge
Wafer XRD 200

Wafer XRD 300

Integratable wafer orientation solution

Zu den Funktionen gehören

  • High throughput wafer metrology system
  • Supports 300mm Si wafers
  • Optimal for Wafer Production: measure crystal orientation, recognize wafer ID, flat/notch and shape of wafer edge
Wafer XRD 300

XRD-OEM

Fully automated in-line orientation and handling of ingots, boules, and pucks

Zu den Funktionen gehören

  • Measurement head for crystal orientation
  • Built for integration into e.g. cutting and grinding machines
XRD-OEM
DDCOM

DDCOM

Ultraschnelle Messung der Kristallausrichtung an der Bodenoberfläche in einem kompakten Gehäuse

SDCOM

SDCOM

Ultraschnelle Messung der Oberseite für die Kristallausrichtung in einem kompakten Gehäuse

Omega/Theta

Omega/Theta

Vollautomatisches vertikales Drei-Achsen-Röntgendiffraktometer für ultraschnelle Kristallausrichtung

Wafer XRD 200

Wafer XRD 200

Schnelle, präzise und vollständig ausgestattete Lösung für die Wafer-Ausrichtung und -Sortierung

Wafer XRD 300

Wafer XRD 300

Ihre integrierbare Wafer-Ausrichtungslösung

XRD-OEM

XRD-OEM

Vollautomatische Inline-Ausrichtung und Handhabung von Barren, Säulen und Pucks

Technologie
Röntgendiffraktometrie (XRD)
Kristallausrichtung
Systemtyp
Systemtyp Tischspektrometer Tischspektrometer Standgerät Standgerät Standgerät Messkopf
Halterungen
Mapping-Bühne Nicht zutreffend
Mahlstufe Nicht zutreffend
Stapelbühne Nicht zutreffend
Röhreneinstellungen
Röhrenleistung 30 kV/1 mA 30 kV/1 mA 30 kV/10 mA 30 kV/1 mA 30 kV/1 mA 30 kV/1 mA
Kühlsystem Luftkühlung Luftkühlung Wasserkühlung Luftkühlung Luftkühlung Luftkühlung
Funktionen
Kennzeichnung * Basic Nicht zutreffend
Optische Geometrieerkennung Für Säulen optional Für Säulen optional In Kürze verfügbar
Rockingkurve (Kristallqualität der Probe) Nicht zutreffend
Theta-Scans (nur zur Ausrichtung mit Basisoptik) Nicht zutreffend
Technische Daten
Durchsatzgeschwindigkeit >10 Sekunden Höhenanpassung + 10 Sekunden Höhenanpassung + 10 Sekunden 10 Minuten für 25 Wafer -- Von der Maschine abhängig