研究主題

您会对我们仪器的应用领域感到惊讶

下載型錄

马尔文帕纳科拥有750多份应用说明,我们还发表了许多论文,让您了解我们的技术在各种应用中的使用情况。  我们在此根据大学各院系的主题对我们的应用说明进行了分类。 您可借此机会大致了解与您的学科相关的内容。 您可能熟知某一种分析方法,并希望了解其他分析类型在您的研究领域中的应用情况。 您可能正在着手进入新的研究领域,并希望了解哪些内容能够帮助您获得重要知识。 请耐心查找! 如果您找不到所需内容,请联系我们。 我们或许能够为您找到尚未发布的信息。 

分析方法用缩写表示。 每个页面底部都有一个表格,其中解释了各种方法及其缩写。

单击院系标题即可查找相关的应用说明! 

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名詞說明

我們的產品與技術在產品頁面提供相關說明。您可在下方找到我們儀器量測屬性的快速參考連結,以及量測名稱及其縮寫。進入以下連結來深入瞭解! 

英文縮寫

方法名稱

儀器

測量的特性

DLS (DLS)

動態光散射技術 (DLS)

Zetasizer

分子大小、流體力學半徑 RH、粒子大小、大小分佈、穩定性、濃度、凝聚度

ELS

電泳光散射技術

Zetasizer

Zeta 界面電位、粒子電荷、懸浮穩定性、蛋白質活動力

ITC

等溫滴定熱分析法

MicroCal  ITC

結合親和力、溶液分子反應熱力學

DSC

差示掃描量熱法

Microcal DSC

大分子變性 (重新摺疊)、大分子穩定性

GCI

光柵耦合干涉法 (GCI)

Creoptix WAVEsystem

使用無標記法進行即時結合動力學與結合親和力分析

IMG

自動影像分析

Morphologi 4

粒子成像、自動形狀與大小量測

MDRS

形貌導向拉曼光譜技術

Morphologi 4-ID

粒子成像、自動形狀與大小量測、化學識別與污染物偵測

LD

雷射繞射

Mastersizer

Spraytec

Insitec

Parsum

適用分析的材料

NTA:

奈米粒子追蹤分析

NanoSight

粒子大小、大小分佈及濃度

SEC  或   GPC

尺寸篩選層析法 (SEC)

凝膠滲透層析法

OMNISEC

分子大小、分子量、減數狀態、聚合物或蛋白質大小及分子結構

SPE

經由熔融法進行樣本製備

Le Neo

LeDoser

Eagon 2

The OxAdvanced

M4

rFusion

適合 XRF 熔融樣本製備、適合 ICP 過氧化物溶液製備、適合熔融樣品通率加權

UV/Vis/NIR/ SWIR

紫外光 / 可見光 / 近紅外線 / 短波紅外線光譜儀

LabSpec

FieldSpec

TerraSpec

QualitySpec

材料識別與分析、濕度、礦物質、碳含量。空中及衛星光譜技術的地面實況。

PFTNA

脈衝快速熱中子活化

CNA

即時元素分析

XRD-C

X 光繞射 (晶體學)

Aeris

Empyrean

分子結晶結構精算、

結晶相識別與定量、結晶與非結晶比例、結晶體尺寸分析

XRD-M

X 光繞射 (微結構)

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

殘餘應力、織構 (Texture)

XRD-CT

由斷層掃描所產生的 X 光吸收成像

Empyrean

固體、孔隙和密度 3D 成像

SAXS

小角度 X 光散射 SAXS

Empyrean

奈米顆粒、尺寸、形狀與結構

GISAXS

低掠角小角度 X 光散射

Empyrean

奈米結構薄膜與表面

HR-XRD

高解析度 X 光繞射

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜與多磊晶層、組成、應力、厚度、品質

XRR

X 光反射法

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜與表面、薄膜厚度、表面與介面平整度

XRF

X 光螢光光譜儀 (XRF)

Epsilon

Zetium

Axios FAST

2830 ZT

元素成分、元素濃度、微量元素、污染物偵測