相鑑定

相鑑定是X光粉末繞射（XRD或XPRD）最重要的應用。XPRD不僅僅應用於粉末樣品，還是用於多晶形固體、懸浮液和薄膜。

無積粉末樣品最常在經典的Bragg-Brentano反射幾何中測量。另一方面，對於有機材料（如藥物和聚合物）、液晶材料和懸浮液，透射幾何通常是首選。而在薄膜方面，掠入射設置是最合適的。

• 地質樣品中礦物的鑑定：相鑑定有助於瞭解樣品的形成機制，這可以提供有關礦石或燃料存在的寶貴資訊。
• 礦石和岩石的等級控制：用於礦藏勘探。
• 檢測多晶形物以區分某種材料不同相中具有相同的化學成分的物質，是製藥產業的一項重要任務。
• 品質控制：確定純相中雜質的存在。使用現代化X光光學器件和偵測器，可以偵測到低至 0.1 wt%的雜質。
• 偵測非環境條件下的相變化，如溫度或濕度變化。
• 鑑識技術：相鑑定可以是確定犯罪相場痕跡來源的決定因素。
• 鍋爐和發電廠的腐蝕：發現的相提供了有關導致問題的條件與反應的寶貴資訊。他們間接地給予如何針對腐蝕的過程進行預防或最小化的提示。
• 奈米材料：像是奈米二氧化鈦的金紅石相識紫外線阻隔應用（如防曬霜）所必需的，如同光催化活性需要銳鈦礦相。
• 聚合物和塑膠：藉由WAXS（廣角Ｘ光散射）鑑定晶相和多晶形物以及填充材料。
• 液晶：鑑定熱致性和溶致性亦晶相（中間相）。例如：在介面活性劑系統中透過低角度繞射測量。

Malvern Panalytical 的Empyrean X 光繞射系統帶有垂直測角儀平台，非常適合粉末、薄膜、固體和懸浮液的相鑑定。這些多用途儀器主要用於研究環境。還支援在孔板上進行高通量多晶形物篩選。

Aeris 桌上型XRD繞射儀具有直觀的操作介面、一流的數據品質和高樣品通量，是產業和研究環境中粉末和固體產品常規相分析的絕佳工具。

HighScore (Plus) 是一個功能強大的軟體包，即使複雜的相混和物中也可以進行峰的搜索並輕鬆地相鑑識。HighScore(Plus)允許同時搜索多個參考資料庫，並提供許多自動化和報告選項。還支援對具有相似相組成的樣品進行群集分析。