物理学与应用物理学研究解决方案

想利用我们的分析解决方案增进您对物理学与应用物理学的了解吗？我们提供了大量有用的文章，介绍了与我们的物理学研究解决方案高度相关的应用例子，无论您是学生、研究人员还是教授，均可从中获益。

该领域所研究的材料和所使用的分析设备通常与化学与应用化学以及材料科学与工程领域的应用重叠，因此请查看这些页面以了解更多有用信息！有关方法缩写的解释，请参见此页面的底部。

物理学中还研究和发明了仪器和分析方法。这里我们只介绍与浓缩物质物理学研究相关的应用。我们的仪器和研究科学家在科学期刊上发表了著作。如果您在查找与我们仪器所依据的物理学技术（例如 X 射线散射、X 射线荧光、激光衍射或动态光散射）有关的研究级质量资料时需要帮助，请联系我们。

物理学与应用物理学

应用物理学研究包括：

纳米颗粒和纳米技术
胶体科学
光学材料
生物物理学
材料物理学
凝聚态物理学
超导体
半导体
光电
电磁材料

我们汇总了一些文章，举例说明了我们的分析方法可以在哪些领域提供物理学研究解决方案。敬请查看，了解更多信息！

物理学与应用物理学	方法	样品	应用说明标题（链接）
陶瓷粉末、玻璃熔片 - 颗粒粒度	LD	陶瓷粉末、玻璃熔片	使用激光衍射粒度分析法检测陶瓷粉末中的超大颗粒
玻璃 - 元素分析	XRF	苏打玻璃/显微镜载玻片	苏打玻璃中的主量、微量和痕量化合物分析
磁性合金 - 晶体结构与温度	XRD	MnBi	高分辨率晶体学：研究新型永磁体
磁性纳米晶体 - 粒度/簇大小	DLS	Fe3O4 胶体纳米晶簇 (CNC)、Fe3O4@SiO2 胶体的烷醇溶液	使用 Zetasizer Nano 表征磁调胶体光子晶体
纳米颗粒 - 晶相和粒度	XRD/SAXS/PDF	TiO2 纳米粉末、TiO2 锐钛矿和金红石	使用实验室 X 射线衍射仪进行多技术纳米颗粒表征
磷光体 - 颗粒粒度和形状	成像技术	聚合物中的磷光体颗粒	使用 Sysmex FPIA-3000 表征 LED 照明下的磷光体颗粒
量子点 - 粒度、分子量和 Zeta 电位	DLS/ELS	量子点、CdSe 晶核与用羧基或聚乙二醇 (PEG) 功能化的 ZnS 壳	使用 Zetasizer Nano 测量量子点
量子点 - 表面体积比	XRD	胶体 CdS 量子点	胶体量子点上的 SAXS
单晶 - 取向	XRD	钨酸镉（单晶）	单晶钨酸镉的取向
玻璃上的薄膜 - 厚度和粗糙度	XRD	硼硅酸盐 (BK7) 玻璃上的离子镀 (IP) 和反应蒸发 (RE) TiO2	对玻璃上的薄层进行表征

名詞說明

我們的產品與技術在產品頁面提供相關說明。您可在下方找到我們儀器量測屬性的快速參考連結，以及量測名稱及其縮寫。進入以下連結來深入瞭解！

英文縮寫	方法名稱	儀器	測量的特性
DLS (DLS)	動態光散射技術 (DLS)	Zetasizer	分子大小、流體力學半徑 R_H、粒子大小、大小分佈、穩定性、濃度、凝聚度
ELS	電泳光散射技術	Zetasizer	Zeta 界面電位、粒子電荷、懸浮穩定性、蛋白質活動力
ITC	等溫滴定熱分析法	MicroCal ITC	結合親和力、溶液分子反應熱力學
DSC	差示掃描量熱法	Microcal DSC	大分子變性 (重新摺疊)、大分子穩定性
GCI	光柵耦合干涉法 (GCI)	Creoptix WAVEsystem	使用無標記法進行即時結合動力學與結合親和力分析
IMG	自動影像分析	Morphologi 4	粒子成像、自動形狀與大小量測
MDRS	形貌導向拉曼光譜技術	Morphologi 4-ID	粒子成像、自動形狀與大小量測、化學識別與污染物偵測
LD	雷射繞射	Mastersizer Spraytec Insitec Parsum	適用分析的材料
NTA：	奈米粒子追蹤分析	NanoSight	粒子大小、大小分佈及濃度
SEC 或 GPC	尺寸篩選層析法 (SEC) 凝膠滲透層析法	OMNISEC	分子大小、分子量、減數狀態、聚合物或蛋白質大小及分子結構
SPE	經由熔融法進行樣本製備	Le Neo LeDoser Eagon 2 The OxAdvanced M4 rFusion	適合 XRF 熔融樣本製備、適合 ICP 過氧化物溶液製備、適合熔融樣品通率加權
UV/Vis/NIR/ SWIR	紫外光 / 可見光 / 近紅外線 / 短波紅外線光譜儀	LabSpec FieldSpec TerraSpec QualitySpec	材料識別與分析、濕度、礦物質、碳含量。空中及衛星光譜技術的地面實況。
PFTNA	脈衝快速熱中子活化	CNA	即時元素分析
XRD-C	X 光繞射 (晶體學)	Aeris Empyrean	分子結晶結構精算、結晶相識別與定量、結晶與非結晶比例、結晶體尺寸分析
XRD-M	X 光繞射 (微結構)	Empyrean X’Pert³ MRD(XL)	殘餘應力、織構 (Texture)
XRD-CT	由斷層掃描所產生的 X 光吸收成像	Empyrean	固體、孔隙和密度 3D 成像
SAXS	小角度 X 光散射 SAXS	Empyrean	奈米顆粒、尺寸、形狀與結構
GISAXS	低掠角小角度 X 光散射	Empyrean	奈米結構薄膜與表面
HR-XRD	高解析度 X 光繞射	Empyrean X’Pert³ MRD(XL)	薄膜與多磊晶層、組成、應力、厚度、品質
XRR	X 光反射法	Empyrean X’Pert³ MRD(XL)	薄膜與表面、薄膜厚度、表面與介面平整度
XRF	X 光螢光光譜儀 (XRF)	Epsilon Zetium Axios FAST 2830 ZT	元素成分、元素濃度、微量元素、污染物偵測