微小領域マッピング- SumXcoreテクノロジーを使用したスチールの In situ 元素分析

スチールは、日常生活で幅広く用いられており、建設や自動車製造、家庭用品で使用される基本素材です。その特性を長期にわたって維持するためには、高品質であることが大切です。バルク分析と微小領域分析の両方の品質管理、および元素分布マッピングにおいては、技法として蛍光X線が使用されます。

SumXcoreは、Zetium分析装置にEDコアを統合することでWDXRFEDXRFという2つのテクノロジーを融合した、革新的かつ強力な分析テクノロジーです。金属分析用途で以下のようなメリットがあります。
• 測定時間の短縮
• 製造における予想外の元素の特定
• 高速サンプルスクリーニング
• スペクトルの記録 

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