A fluorescência de raios X é uma técnica analítica que pode ser utilizada para determinar a composição química de uma ampla variedade de tipos de amostras, incluindo sólidos, líquidos, pastas e pós soltos. A XRF também é usada para determinar a espessura e a composição de camadas e revestimentos. Ela pode analisar elementos desde o berílio (Be) até o urânio (U) em faixas de concentração de 100% de peso em níveis de ppm inferiores.
A XRF é um método de emissão atômica, semelhante neste quesito à espectroscopia de emissão óptica (OES), ICP e análise por ativação de nêutrons (espectroscopia gama). Esses métodos medem o comprimento de onda e a intensidade da "luz" (raios X, neste caso) emitida pelos átomos energizados na amostra.
Na XRF, a irradiação por um feixe de raios X primário a partir de uma ampola de raios X causa a emissão de raios X fluorescentes com energias discretas, características dos elementos presentes na amostra.
Figura, direita: Exemplo do processo de fluorescência de raios X (XRF): 1) Fóton de entrada 2) Fóton característico.
XRF é uma técnica analítica versátil que encontra aplicação em um amplo espectro de setores e campos científicos. A sua adaptabilidade e precisão tornaram-na uma ferramenta indispensável para entender e manipular a composição elementar dos materiais. Desde auxiliar na identificação de materiais e no controle de qualidade em indústrias até a preservação do patrimônio cultural e o avanço da pesquisa científica, a XRF continua a desempenhar um papel fundamental no aprimoramento da nossa compreensão do mundo elementar.
A XRF é amplamente utilizada no controle de qualidade e de processos. Os usuários podem obter rapidamente resultados precisos e exatos com esforço limitado na preparação da amostra, e a preparação pode ser facilmente automatizada para uso em ambientes industriais de alto rendimento. A precisão e a natureza não destrutiva da XRF fazem dela uma ferramenta inestimável para o controle de qualidade em vários setores de fabricação, tais como:
A XRF desempenha um papel fundamental na pesquisa e no desenvolvimento de materiais:
Nas áreas farmacêutica e médica a XRF também tem diversas aplicações:
Desde a preparação de amostras até o relatório de resultados, ajudamos você a criar seu fluxo de trabalho ideal para atender às suas necessidades de análise elementar.
A análise de XRF é uma técnica robusta, que combina alta precisão e exatidão com preparação de amostra simples e rápida. Ela pode ser facilmente automatizada para uso em ambientes industriais de alta produtividade, além de a XRF fornecer informações qualitativas e quantitativas sobre uma amostra.
A tecnologia usada para separação (dispersão), identificação e medição de intensidade do espectro de fluorescência de raios X de uma amostra dá origem a dois tipos principais de espectrômetros: sistemas dispersivos de comprimento de onda (WDXRF) e sistemas dispersivos de energia (EDXRF).
Saiba mais sobre esses tipos de espectrômetros e as tecnologias por trás deles aqui:
Oferecemos diversas soluções de fluorescência de raios X e analisadores de XRF para a análise da composição elementar de vários materiais e aplicações, incluindo soluções de comprimento de onda e de dispersão de energia.
Para obter mais informações sobre os preços do analisador de XRF, leia nossa página Quanto custa um analisador de XRF. Ou descubra nosso portfólio de soluções na tabela abaixo.
A nossa variedade de pacotes de software de XRF pode ajudar você a extrair o valor máximo da sua instrumentação de XRF. Nosso compromisso com a excelência significa que o nosso software está em constante evolução. Investimos em pesquisa e desenvolvimento para permanecer na vanguarda da tecnologia de análise de XRF e garantir que você tenha acesso aos mais recentes avanços e recursos.
RevontiumBrilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas |
ZetiumExcelência elementar |
Série EpsilonRapidez e precisão na análise elementar e em linha |
Axios FASTAlta produtividade de amostras |
2830 ZTSolução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados |
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Tipo de medição | |||||
Metrologia de filme fino | |||||
Análise elementar | |||||
Detecção e análise de contaminantes | |||||
Quantificação elementar | |||||
Identificação química | |||||
Tecnologia | |||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
Gama elementar | |||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |||||
processamento de amostra |