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Marcas registradas
| Marca Comercial | Status |
|---|---|
| 1DER | ® |
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| (ASD Inc) logo | ® |
| AMASS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo) | ® |
| Archimedes | ® |
| AXIOS | ® |
| CHI-BLUE | ® |
| Claisse | ® |
| Claisse (+ Logo) | ® |
| CREOPTIX | ® |
| CUBIX | ® |
| CUBIX3 | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| EASY SAXS | ® |
| EMPYREAN | ® |
| EPSILON | ® |
| EPSILON X-FLOW | ® |
| EXPERT SAXS | ® |
| EASY SAXS | ® |
| FieldSpec | ® |
| FIPA | ™ |
| FLUOR’X | ® |
| GALIPIX 3D | ® |
| Gemini | ™ |
| goLab | ™ |
| HandHeld 2 | ™ |
| HIGHSCORE | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| Indico Pro | ™ |
| Insitec | ® |
| (Insitec logo) | ® |
| (Insitec Measurement Systems logo) | ® |
| ISys | ® |
| LabSizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3 PALS | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| Malvern | ® |
| (Triangular hills logo + Malvern Instruments) | ® |
| Malvern in Chinese characters | ® |
| Malvern Instruments | ® |
| Malvern Instruments in Chinese characters | ® |
| Malvern Link | ™ |
| (Malvern Plus Hills Logo) | ® |
| MALVERN PANALYTICAL | ® |
| MALVERN PANALYTICAL in Chinese characters | ® |
| MALVERN PANALYTICAL in Katakana | ® |
| MALVERN PANALYTICAL in Korean script | ® |
| MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo) | ® |
| Mastersizer | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC (stylised) | ® |
| MDRS | ® |
| Microcal | ® |
| Morphologi | ® |
| (Triangular hills logo) | ® |
| Nanosight | ® |
| NIBS | ™ |
| OIL-TRACE | ® |
| OMNIAN | ® |
| OMNISEC | ® |
| OMNITRUST | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| PANALYTICAL LOGO (picture) | ® |
| PANTOS | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1D | ® |
| PIXCEL 3D | ® |
| PIXIRAD | ® |
| QualitySpec | ® |
| Spraytec | ™ |
| SST | ® |
| SST-MAX | ® |
| SUPER SHARP TUBE | ® |
| STRATOS | ® |
| SUPER Q | ® |
| SyNIRgi | ™ |
| TerraSpec | ® |
| TheOx® Advanced | ® |
| Ultrasizer | ™ |
| VENUS MINILAB | ® |
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ™ |
| Viscotek | ® |
| Viscotek SEC-MALS | ™ |
| WAVECHIP | ® |
| WE'RE BIG ON SMALL | ™ |
| (X Logo) | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| XPERT3 | ® |
| Zetasizer | ® |
| ZETIUM | ® |
| ZS Helix | ® |
Patentes
A Malvern Panalytical tem uma variedade de produtos exclusivos, líderes de mercado, protegidos pelas seguintes aplicações de patentes e patentes:
Mastersizer
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| GB2494735B | Aparelho para medir a distribuição do tamanho das partículas por espalhamento de luz | MS3000, MS3000E |
| CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B | Aparelho e método para medir a distribuição do tamanho das partículas por espalhamento de luz | MS3000, MS3000E |
| US10837889B2
GB2494734B | Aparelho e método para medir a distribuição do tamanho das partículas por espalhamento de luz | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US7217350B2
| Mobilidade e efeitos decorrentes da carga da superfície | Linha Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix |
| EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8)
CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2 | Microrreologia de fluidos complexos baseada em espalhamento dinâmico de luz com detecção de modo de espalhamento único aprimorado | Linha Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix |
| CN103608671B
CN105891304B EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2 | Medição de carga de superfície | Acessório de célula de placa zeta |
| US8702942B2
CN103339500B EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 | Eletroforese Doppler a laser que utiliza uma barreira de difusão | Linha Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
| EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2 | Caracterização de modo duplo de partículas | Zetasizer Helix |
| US10197485B2
US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527A1 JP6936229B2 CN108291861B | Caracterização de partículas | Linha Zetasizer Advance |
| US10119910B2 | Instrumento de caracterização de partículas | Zetasizer Advance: Ultra e Pro |
| US8675197B2
JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3) | Caracterização de partículas | Acessório Zetasizer Advance |
| EP3521806A1
US11441991B2 CN111684261A JP2021513649A | Espalhamento de luz dinâmico multi-ângulo | Zetasizer Advance: Ultra |
Insitec
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US7418881B2
EP1592957B1 (GB) | Sistema e método de diluição | Insitec (alguns produtos) |
| US7871194B2
EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8) | Sistema e método de diluição | Insitec (alguns produtos) |
| EP2640499B1 (GB) | Método de mistura em pó e dispersor em linha | Insitec dry |
Morphologi
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2 US8564774B2 | Investigação espectrométrica da heterogeneidade | Morphologi G3-ID |
| GB2522735B
JP6560849B2 | Método e aparelho para dispersão de pó | Morphologi G3-ID, Morphologi G3 |
Viscosizer
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US11113362B2
JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B | Parametrização do modelo de vários componentes | Viscosizer TD |
Hydro Sight
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US8456633B2 | Monitoramento do processo espectrométrico | Hydro Sight |
| CN104704343B
EP2864760A2 US10509976B2 | Caracterização de amostra de fluido heterogêneo | Hydro Sight |
NanoSight
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US7751053B2
JP04002577B2 EP1499871B1 (FR, DE60335872.1) US7399600B2 | Detecção óptica para análise de partículas | NanoSight NS300
NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
| EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B | Melhorias na ou relacionadas à calibração de instrumentos | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| CN101855541B
EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2 | Aparelho de microcalorímetro de titulação isotérmica e método de uso | Linha MicroCal ITC |
| CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 | Aparelho de microcalorímetro automático de titulação isotérmica e método de uso | Linha MicroCal ITC |
MicroCal DSC
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US8635045B2
CN103221808B EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2 | Método para descoberta automática de pico em dados calorimétricos | Linha MicroCal DSC |
OMNISEC
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US9759644B2
US10551291B2 | Viscosímetro de ponte capilar balanceado | OMNISEC |
| US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 | Viscosímetro de ponte capilar modular | OMNISEC |
QualitySpec 7000
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US8164747B2
CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) | Aparelho, sistema e método para medições espectroscópicas ópticas | QualitySpec 7000 |
TerraSpec Halo
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US9207118B2 | Aparelho, sistema e método para varredura da instrumentação do espectrômetro de matriz de diodo e monocromador | TerraSpec Halo |
QualitySpec Trek
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US9207118B2 | Aparelho, sistema e método para varredura da instrumentação do espectrômetro de matriz de diodo e monocromador | QualitySpec Trek |
FRX apoiados no chão
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2 | Amostra fundida de esferas | Zetium
Axios FAST Epsilon5 |
| EP1701154B1 (FR, DE)
JP4950523B2 | Instrumento e método para correção de anormalidades
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7949092B2
| Dispositivo e método para realizar a análise por raios X
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS |
| JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7) | Método para fabricação de uma estrutura multicamadas com um padrão lateral para aplicação na faixa de comprimento de onda xuv, e estruturas bf e Imag fabricadas de acordo com este método | Zetium*
Axios FAST 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US9658352B2
CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 | Método de criação de um padrão | Zetium
Axios FAST |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | Preparação dos pellets de amostra através de pressurização | Zetium
Axios FAST |
| US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B | Preparação de amostras para FRX com a utilização de fluxo e cadinho de platina | Zetium
Axios FAST |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | Análise quantitativa por raios X - Correção da espessura da matriz | Zetium*
Axios FAST |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | Análise quantitativa por raios X - Instrumento de trajeto óptico múltiplo | Zetium*
Axios FAST |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | Análise quantitativa por raios X - Correção da razão | Zetium*
Axios FAST |
| US9239305B2 | Suporte de amostra | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 |
| US7978820B2
| Difração de raios X e fluorescência | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7720192B2
JP5574575B2 CN101311708B | Aparelho de fluorescência de raios X | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7194067B2
| Sistema óptico de raios X | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT (analisador de wafers)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | Fonte de raios X com cátodo de fio metálico | Zetium
Axios FAST 2830 ZT (analisador de wafers) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | Disposição do ânodo da ampola de raios X
| Zetium
Axios FAST 2830 ZT (analisador de wafers) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A | Colimador cônico para medições de raios X | Zetium* |
| *· Opcional/não padrão no produto | ||
FRX de bancada
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | Amostra fundida de esferas | Série Epsilon 1
Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality |
| EP1701154B1 (FR, DE)
JP4950523B2 | Instrumento e método para correção de anormalidades
| Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US7949092B2
| Dispositivo e método para realizar a análise por raios X
| Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US9658352B2
CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 | Método de criação de um padrão | Série Epsilon 1
Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | Preparação dos pellets de amostra através de pressurização | Série Epsilon 1
Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality |
| US10107551B2
JP6559486B2 CN105258987B EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) | Preparação de amostras para FRX com a utilização de fluxo e cadinho de platina | Série Epsilon 1
Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | Análise quantitativa por raios X - Correção da espessura da matriz | Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | Análise quantitativa por raios X - Instrumento de trajeto óptico múltiplo | Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | Análise quantitativa por raios X - Correção da razão | Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US9239305B2 | Suporte de amostra | Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US9547094B2
CN104849295B EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 | Aparelho de análise por raios X
| Série Epsilon 1
Espectômetros Epsilon 3X Edição Epsilon 4 Air Quality |
| US7978820B2
| Difração de raios X e fluorescência | Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | Fonte de raios X com cátodo de fio metálico | Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | Disposição do ânodo da ampola de raios X
| Série Epsilon 1*
Espectômetros Epsilon 3X* Edição Epsilon 4 Air Quality* |
| * Opcional/não padrão no produto | ||
DRX apoiados no chão
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| EP1701154B1 (FR, DE)
JP4950523B2 | Instrumento e método para correção de anormalidades | Linha Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ |
| US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | Imagens por difração | Linha Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³# |
| US7116754B2 | Difratômetro | Empyrean#
|
| US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | Detector de imagens | Linha Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³# |
| EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2) | Detector de imagens | Linha Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³# |
| US9110003B2
CN103383363B EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 | Microdifração
| Linha Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³# |
| US9640292B2
CN104777179B EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 | Aparelho de raios X
| Linha Empyrean
X'Pert³ Powder CubiX³ |
| US7756248B2
JP5145263B2 CN101545873B EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1) | Detecção de raios X na embalagem
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | Difração de raios X e tomografia computadorizada | Linha Empyrean
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³* |
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | Equipamento de difração de raios X para dispersão de raios X
| X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)* |
| US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) | Instrumento de raios X | Linha Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ |
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | Disposição do obturador de raios X | Linha Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | Disposição do ânodo da ampola de raios X
| Linha Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³* |
| EP3553508A2
US11035805B2 JP2019184609A CN110389142B | Aparelho e método de análise por raios X | Empyrean* |
| US10359376B2
EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308B | Suporte de amostra para análise por raios X | Empyrean* |
| US10782252B2
CN110376231A EP3553506A2 JP2019184610A | Aparelho e método de análise por raios X com controle híbrido de divergência de feixes | Linha Empyrean
X'Pert³ CubiX³ |
| US10753890B2
EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B JP6709814B2 | Aparelho e método de difração de raios X de alta resolução | Empyrean* |
| EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8)
JP2019184611A1 US10900912B2 CN110389143A | Aparelho de análise por raios X | Empyrean* |
| US10352881B2
EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B JP6839645B2 | Tomografia computadorizada | Empyrean* |
| US9753160B2
CN104285164B EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2 | Sensor digital de raios X | Linha Empyrean
X'Pert³ CubiX³ |
| *Opcional / fora do padrão do produto
# Disponível mediante solicitação | ||
DRX de bancada
| Números de patentes | Título da patente | Equipamentos |
|---|---|---|
| EP1701154B1 (FR, DE)
JP4950523B2 | Instrumento e método para correção de anormalidades | Aeris
|
| US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | Imagens por difração | Aeris*
|
| US7116754B2 | Difratômetro | Aeris*
|
| EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2) | Detector de imagens | Aeris*
|
| US9640292B2
JP6564572B2 CN104777179B EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) | Aparelho de raios X | Aeris |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | Difração de raios X e tomografia computadorizada | Aeris*
|
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | Equipamento de difração de raios X para dispersão de raios X
| Aeris*
|
| US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) | Instrumento de raios X | Aeris*
|
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | Disposição do obturador de raios X | Aeris
|
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | Disposição do ânodo da ampola de raios X
| Aeris*
|
| US10753890B2
EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B JP6709814B2 | Aparelho e método de difração de raios X de alta resolução
| Aeris*
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* Opcional/não padrão no produto | ||