A identificação das fases únicas ou múltiplas, simples ou importantes, em uma amostra desconhecida é a principal aplicação da difração clássica de pós por raio X.
Fase é um sólido cristalino com uma disposição tridimensional regular dos átomos. As posições e as intensidades do pico de difração medidas são como uma impressão digital de uma determinada fase cristalina.
A identificação é feita por comparação do padrão medido com as entradas nos bancos de dados de referência usando um algoritmo de correspondência de pesquisa. Isso é também conhecido como análises de fase qualitativa.
A identificação de fase é a aplicação mais importante da difração de pó de raios X (XRD ou XRPD). XRPD não é aplicada somente nas amostras de pó, mas também em sólidos policristalinos, suspensões e filmes finos.
As amostras de pó inorgânico são mais frequentemente medidas na geometria clássica de reflexão de Bragg-Brentano.
Por outro lado, uma geometria de transmissão é normalmente preferida para materiais orgânicos (por exemplo, produtos farmacêuticos e polímeros), materiais cristalinos líquidos e suspensões. No caso de filmes finos, uma configuração de incidência rasante é mais apropriada.
Os sistemas de difração de raios X Empyrean da Malvern Panalytical com suas plataformas de goniômetro vertical são bastante indicados para identificação de fase em pós, filmes finos, sólidos e suspensões. Esses instrumentos multiuso são predominantemente usados em ambientes de pesquisa. A triagem de polimorfo de alta produtividade em uma placa de mostra é também suportada.
O difratômetro de bancada Aeris com sua interface do usuário intuitiva, a qualidade de ponta dos dados e a alta produtividade de amostras é uma ferramenta excelente para análises de fase de rotina de amostras sólidas e em pó em ambientes industriais e de pesquisa.
HighScore (Plus) é um pacote de software poderoso que permite pesquisa de picos e fácil identificação de fase, mesmo em misturas de fase complexas. HighScore (Plus) permite pesquisas simultâneas em vários bancos de dados de referência e oferece várias opções para automação e geração de relatórios. A análise de cluster para agrupamento de amostras com uma composição de fase similar é também suportada.
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Tecnologia | ||
X-ray Diffraction (XRD) | ||
Tipo de medição | ||
Identificação de fase | ||
Material do ânodo do tubo de raios X |