概述
X 射线荧光光谱仪 (XRF) 在水泥业发挥着重要且完善的分析作用。 与 Eagon 2 全自动熔融系统相结合,Epsilon 4 仅需 10 分钟即可符合 ASTM C114-15 和 ISO 29581-2 的水泥测试方法。
只需一次适度投资,Epsilon 4 就可以带来显著的附加价值,如下图所示。
特点
台式 XRF 的优势
Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
准确的结果
高性能金属陶瓷 X-射线管由马尔文帕纳科设计和制造,确保提供高质量数据和可靠结果。 从 4.0 到 50 kV 的灵活电压设置以及最高 3.0 mA 的电流设置可用于确定适合特定应用的激发条件,能够优化元素周期表中各种元素的性能。无人值守式运行
快速而敏銳
使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果,並獲得更高的強度。
獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time),及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV,可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測,進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。
減少氦氣的使用
Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析,減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時,鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化,無論天候如何變化,都能確保獲得最佳結果。
技术指标
样品处理 | X 射线管 | 检测器 | 软件 |
---|---|---|---|
具备 10 个位置的可移动样品交换器 | 稳定性高的金属陶瓷侧窗 | 高分辨率硅漂移探测器 (SDD),通常为 135 eV @ Mn-Kα | 通过 Omnian 无标分析解决方案,替代燃料的元素筛选 |
光谱仪最多可容纳直径 52 毫米(2 英寸)的样品 | 50 微米薄铍窗,对轻元素高度敏感(Na、Mg、Al、Si) | 最大值(M) 计数率 1,500,000 c/s(在 50% 的死时间下) | 通过 FingerPrint 解决方案,进行合格/不合格分析 |
包含自旋器,以提高空气滤清器分析的准确性 | Ag 阳极 X 射线光管,获得 P、S 和 Cl 分析性能 | 薄入探测器射窗,高灵敏度 | 使用 Oil-Trace,在新润滑油和使用过的润滑油中对磨损金属进行灵活校准 |
附件
标准(参考材料)
WROXI
软件
Epsilon 應用軟體
Epsilon 軟體是 XRF 分析軟體平台,能與 PANalytical 的 Epsilon 1 與 Epsilon 4 系列桌上型 EDXRF 系統搭配使用。
Omnian
當特定方法或認證標準品不易或無法取得時,Omnian 軟體能提供給您最好的分析結果。
Oil-Trace
FingerPrint
FingerPrint 軟體模組搭配 Epsilon EDXRF 系統,非常適合進行快速材料比對測試。
支持
服务
提升投资回报的解决方案
为确保您的仪器保持好的状态并发挥高性能,马尔文帕纳科提供了广泛的服务。 我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器发挥高性能。
支持
生命周期服务
- 电话和远程支持
- 预防性维护和检查
- 灵活的客户服务协议
- 性能认证
- 硬件和软件升级
- 本地和全球支持
专业知识
帮助您提升工艺价值
- 样品制备开发/优化
- 分析方法
- XRD 一体化解决方案
- 通过 IQ/OQ/PQ 操作,质量保证(GLP、ISO17025)或循环/实验室间研究
- 实验室流程自动化
- 咨询服务
培训和教育
- 在现场或我们的能力中心开展培训
- 广泛的基础和高级课程,涵盖产品、应用和软件
分析服务和校准材料
- 专家 (XRF) 分析服务
- 氧化物和痕量分析
- 定制的校准材料
主要应用
Epsilon 4 光谱仪可以处理类型广泛的样品,重量从几毫克到更大的块状样品不等。
可以测量下列类型的样品:
- 固体
- 粉末压片
- 疏松粉末
- 液体
- 熔片
- 浆料
- 颗粒
- 滤膜
- 薄膜与涂层