特点
独特而全面的无标分析软件包
Omnian 是软件和设置样品的绝佳组合。 通过测量设置标样，来安装每个 Omnian 软件。 这些精心挑选的材料专为最具挑战性的基体分析而设计。 设置标样由纯原料制成，用于微调 Omnian 软件使其适应光谱仪之间的细微差异，同时结合光谱元素功能，克服了其他半定量策略的局限性。 Omnian 软件包括先进的第三代 FP 模型算法，正是这两个特点的结合使其截然不同。 这种分析方法可用于所有样品类型，无论是液体、粉末还是固体，均可提供可靠、准确的元素分析结果。
检查所有光谱特征，获得更好的解读
安装 Omnian 之后对其进行配置，使其匹配光谱仪并可完全解读所有光谱仪数据。 系统会生成由扫描模式组成的最佳分析程序，提高了灵活性。 与 Zetium 光谱仪配合使用时，Omnian 可以使用快速扫描模式，在 2 分钟内即可生成可靠的结果。 通过结合特定元素峰值测量的省时策略，同时使用只能通过扫描策略生成的精确背景计算，可以实现这一点。 如果需要更高精度的痕量元素分析，则可以使用特定通道来增强基于扫描的程序。
增强的数据处理能力
Omnian 包括用于应对 XRF 固有的已知局限性的高级算法。 例如，Omnian 结果将会仅包含已检测到并确定具有重要意义的元素。 此外，一旦开始检测，Omnian 会自动采用克服光谱干扰的策略。 无论何时选择了有利的无干扰线路，系统都会自动执行校正。 Omnian 还包括一整套高级基体校正功能，例如可变样品厚度补偿。 此外，在 C、H 和 O 等轻元素表现出显著吸收（例如油中的硫元素）的情况下，黑色基体校正可提高分析准确性。 荧光体积几何 (FVG) 是用于光谱分析的另一项高级基体校正功能，可在轻质基体中测量重元素（例如聚合物中的重金属）。
用于高价值分析
Omnian 专为“黑箱”模式而设计，已成为所有行业的高价值分析软件包。 由于大多数分析人员常常会遇到陌生或不熟悉的样品，Omnian 在此类应用中可以大显身手，包括定量分析、快速筛选、研发分析、失效分析和比较分析。 通过直观的用户界面，经验丰富的用户可以通过选择众多策略选项之一，采用专门的校准方法轻松获得更出色的结果。 比如“自适应样品表征”(ASC) 的微调功能，它可通过添加和测量类似标样，可产生远远超过无标或半定量软件包的准确结果。
规格
易于使用和集成
Omnian 可供所有操作员轻松使用。 简单的用户界面为分析操作、数据检索和光谱视图提供了直观的平台。 可以轻松比较和打印结果，并将结果导入为 Microsoft Word 格式以生成报告，或传输到 LIMS。