X선 분석

X선 회절 (XRD) 및 X선 산란을 사용하여 시료의 결정 구조(X선 결정화)를 분석하거나 시료의 결정상(X선 분말 회절/XRPD)을 식별 및 정량화할 수 있습니다. 

X선 회절분석기 는 도구와 액세서리로 확장하여 물체의 내부 구조를 시각화하거나 X선 산란을 사용하여 나노입자의 크기 분포를 결정할 수 있습니다.    

X선 형광 (XRF)은 물질의 원소 조성을 결정하기 위해 널리 사용되는 비파괴 및 고속 기법으로 시료 전처리가 최소한으로만 필요합니다. 

XRF 분석기는 수입품의 독성 원소 선별 검사부터 처리량이 많은 생산 핵심 환경의 정밀한 분석에 이르기까지 다양한 분야에 사용할 수 있습니다. 

Malvern Panalytical은 고객의 문제를 해결할 수 있는 다양한 XRF 분석기를 보유하고 있습니다

XRD와 XRF는 X선 소스와 X선 검출기를 모두 사용하는 면에서 여러 모로 유사한 보완적 기법이지만, 두 가지 기법에서 제공하는 정보는 매우 다릅니다. 

XRD는 시료에 존재하는 결정상에 대한 정보를 제공하며, 화합물을 구분할 수 있습니다. 다양한 산화 상태(Fe₂O₃/Fe₃O₄) 또는 여러 가지 다형성(반질성 vs 마헤마이트, 둘 다 페릭 옥사이드 Fe₂O₃) 간의 구분을 예로 들 수 있습니다. 

XRF는 시료의 화학적(원소) 조성, 즉 어떤 원소(Fe, O)가 있고 양이 얼마큼인지에 대한 정보를 제공합니다. XRF의 주요 장점 중 하나는 화학 원소의 양을 100ppb(10억분율)까지 검출할 수 있다는 것입니다. XRF 시료 전처리도 다른 기법에 비해 빠르고 쉽고 안전합니다. 

Malvern Panalytical은 수십 년 간의 경험을 갖춘 세계 최고의 X선 분석 장비 공급업체입니다. 

당사는 사용이 간편한 탁상용 시스템부터 XRF와 XRD를 위한 전력의 종합적인 직립형 시스템에 이르기까지 다양한 솔루션을 제공합니다. 

이러한 기술은 무료로 제공되며 많은 생산 관리 환경에서 최적의 품질 보증을 위해 두 가지 유형의 장비가 모두 사용됩니다.