Aeris 탁상용 XRD 시스템

기능 및 장점

미래 지향적

첨단 다목적* 회절 분석기인 Aeris의 모듈형 설계는 선택적인 업그레이드와 추가를 간편하게 만들어 주며, 제품 가용성을 보장함으로써 미래에도 안심하고 사용할 수 있습니다.

*비주변, 반사, 투과, 그레이징 입사, 2D 회절.

간편한 플러그 앤 플레이

Aeris를 사용하면 모든 사용자가 XRD 전문 지식을 갖출 필요가 없습니다. 직관적인 인터페이스, 사전 로딩된 측정 프로그램 및 간편한 샘플 배치를 통해 누구든 재현성 높은 뛰어난 결과를 얻을 수 있습니다.

쉽고 재현 가능한 샘플 로딩

Aeris의 정밀 샘플 홀더 및 외부 로딩 시스템을 통해 모든 사용자는 손쉽게 분말에서 고체에 이르는 모든 샘플 유형에 대해 매번 정확하게 샘플을 로드할 수 있습니다.

규제된 환경과의 호환성

제어된 사용자 액세스 및 규정 준수 소프트웨어를 통해 Aeris는 규제가 엄격한 모든 워크플로에 대비할 수 있습니다(21 CFR Part 11 규정에 따름). 여러 사용자를 간편하게 관리할 수 있습니다.

신속성과 정확성

기존 측각기 및 온보드 컴퓨터를 갖춘 Aeris의 고성능 부품과 정밀한 샘플 스테이지는 단 5분 만에 정확한 결과를 제공합니다.

콤팩트한 미래

사용 후기

뛰어난 가격 대비 성능, 쉽고 빠른 사용법, 놀라운 데이터를 모두 갖춘 최고의 제품입니다!

Damian G. Research

사양

샘플 처리
샘플 로딩	외부 샘플 로딩
샘플 홀더	모든 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 최대 크기의 샘플 홀더
샘플 변경	최대 크기의 6개 위치 샘플 교환기
자동화	자동화 통합과 호환
X선 생성
파장	Cu 또는 Co
튜브 설정	30kV 또는 40kV 설정에서 300W~600W 옵션
튜브 하우징	부식 방지 입사 스마트 빔 경로 기술(CRISP)을 사용한 특허받은 설계 ^{CRISP 기술은 X선이 유발하는 이온화 공기로 인한 입사빔 경로에서 부식을 방지합니다. 특허 번호 US 8437451 B2}
측각기(Goniometer)
구성	수직 측각기, 결합 및 분리 θ-θ, 샘플은 항상 수평
형상	Bragg-Brentano, 투과, 입계각 입사
반경	145mm
최대 2θ 범위	-4° < 2θ ≤ 142°(스캐닝 검출기 및 전체 활성 길이)
각도 위치 지정	수명 주기 위치 지정 정확도로 직접 광학 위치 감지(DOPS3)
스캔 속도	최대 2.17°/초
달성 가능한 분해능	LaB6에서 < 0.04° 2θ(0.01rad Soller 슬릿)
2θ 선형성	< 0.04° 2θ
다룰 수 있는 최소 증분	0.001도
단계
회전	스피너 단계 선택
비주변	가열 단계 옵션(BTS-500, BTS-150)
단계 교체	정렬이 불필요한 PreFIX 단계 교체
특별 단계	요청 시(수동, MPSS, 현장)
검출기
검출기	PIXcel1D, PIXcel3D 및 1Der 검출기 중에서 선택
일반
크기(H x W x D)	690mm x 770mm x 786mm/ 27인치 x 30인치 x 31인치
먼지 방지	외부 샘플 로딩이 가능한 폐쇄 시스템
외부 냉각수 공급	필요 없음
압축 공기 공급	필요 없음
전력	100~240V, 단상
컴퓨터	내부 기기 PC
작동	10.4인치 터치스크린의 직관적인 사용자 인터페이스
인터페이스	LAN, USB, HDMI

액세서리

검출기

Ultimate versatility and data clarity in 1D detection.

1Der

Cu, Co, Fe, Mn 및 Cr 방사선을 사용하는 0D, 1D 측정.

PIXcel1D

Cu, Co, Fe, Mn 및 Cr 방사선을 사용하는 0D, 1D 및 2D 측정.

PIXcel3D

소프트웨어 솔루션

Aeris 기기 및 측정은 사전 로딩된 측정 프로그램과 함께 온보드 데이터 수집 소프트웨어로 실행됩니다. 사용자는 자신의 프로그램을 작성할 수도 있습니다.

상 정량화, 비정질 함량 등을 위해 온보드 RoboRiet 소프트웨어는 자동화된 분석을 수행하여 즉각적인 화면 보기를 제공하고 결과 데이터베이스로 전송할 수 있습니다.

X'Pert Industry 를 통해 측정 및 분석을 자동화할 수도 있습니다. Industry는 모든 공정 제어 응용 분야에 대한 데이터 수집 및 보정 라인 기반 정량화 방법을 맞춤화하도록 고유한 스크립팅 기능을 제공합니다. LIMS 시스템에서도 결과 보고를 완전히 설정할 수 있습니다.

또는 HighScore Plus나 Stress Plus 소프트웨어 패키지를 사용하여 심층 분석을 수행할 수도 있습니다.

규정 준수 및 데이터 무결성을 위해 Omnitrust는 규제가 엄격한 환경에서 사용자 관리 및 데이터 감사 요구 사항을 충족하도록 지원합니다.

리트벨트 분석법을 특별히 '실행 전용'으로 구현한 것으로, 프로파일은 XRD 상 정량화, 비정질 정량화 등에 적합합니다.

RoboRiet

규제되지 않는 시스템에서 규제되는 시스템, 수동 제어 시스템에서 완전 자동 시스템에 이르기까지 광범위한 산업 환경에서의 일상적인 X선 회절 분석을 위한 소프트웨어입니다.

Industry

이 올인원 소프트웨어 제품군은 샘플에 존재하는 모든 상을 식별한 후, 정량화(리트벨트 분석법 유무와 상관없이)에서 프로파일 피팅 및 패턴 처리에 이르기까지 지속적으로 분석을 지원합니다.

HighScore Plus

Stress Plus 소프트웨어는 다결정 코팅에서 잔류 응력의 X선 회절(XRD) 분석에 사용됩니다. 이 소프트웨어는 단일 방향 및 다중 방향 기법을 모두 사용하여 sin²ψ 잔류 응력 분석을 수행합니다.

Stress Plus

전문 에디션

Aeris를 통해 연구 및 산업 환경 모두에서 모든 샘플을 쉽게 특성화하고 분석할 수 있습니다. 그러나 경우에 따라 응용 분야에 전문적인 솔루션이 필요하거나 탁상용 XRD 시스템을 보정하고 작동하기 위한 대안이 필요할 수 있습니다.

이러한 요구를 충족하기 위해 출시된 Aeris의 산업별 맞춤형 에디션도 즉시 사용할 수 있습니다. 이러한 전문 산업용 버전은 특정 분석법 또는 샘플 물질에 맞게 사전 보정된 맞춤형 전문 패키지와 함께 제공됩니다. Aeris는 내장된 Roboriet 소프트웨어를 사용해 자동화된 측정과 분석을 수행할 준비가 되어 있습니다. 필요할 때 바로 사용하세요!

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