분광법

근적외선 분광법은 매우 유연한 형태의 분광 분석이며 공정을 최적화하기 위해 물질을 측정하는 비용 효율적인 솔루션입니다.

ASD 제품군의 가시/근적외선 분석기 및 분광복사기는 물질 식별 및 분석, 광 에너지 측정에 적합한 솔루션입니다. ASD의 휴대용 전범위 솔루션은 다음과 같은 분광법 기술에 적용됩니다. 

• Vis-NIR 분광법
  
• SWIR(단파 적외선) 분광법
• Vis-NIR 분광 측광법

형태학적 기반 라만 분광법(MDRS)은 자동 입자 영상과 라만 분광법을 결합합니다. 이 기술을 사용하면 다중성분 샘플에서 개별 성분의 신속하고 자동화된 화학적, 형태학적 특성 분석이 가능합니다.

Morphologi 4-ID는 성분별 입자 특성을 신속하게 자동으로 분석하는 통합형 단일 플랫폼을 제공합니다. 

X선 형광 분광법은 X선 시료를 자극한 다음 시료에서 나오는 형광 X선을 측정하여 시료의 원소를 식별하는 데 사용됩니다. 원소는 형광 X선의 에너지 또는 파장을 확인하는 방식으로 식별하며, 농도는 형광 X선의 강도로 계산할 수 있습니다.

X선 분광법에는 에너지 분산 분광법과 파장 분산 분광법의 두 가지 기술이 있습니다. Malvern Panalytical은 시료에 대한 정성적 정보와 정량적 정보를 모두 제공하는 몇 가지 X선 형광 분광법 솔루션을 제공합니다.

PFTNA는 분광학 기술을 사용하여 원소 농도를 해석합니다. 이 기술은 빠른 온라인 공정 제어를 위해 다양한 산업에서 점점 더 많이 사용하고 있습니다.

CNA 제품군의 교차 벨트 분석기는 안전하고 강력한 인라인 공정 제어를 위해 매우 대표적인 원소 분석을 실시간으로 제공합니다.