분광법이란?
분광법은 물질 및 방사선 간의 상호작용을 연구하기 위한 분석 방법입니다. 여기에는 분광계가 사용되며 빛의 파장과 주파수에 따라 입자를 분석할 수 있습니다.
Malvern Panalytical은 다양한 분석 제품을 제공하여 입자 특성 분석 또는 물질 식별 요구 사항의 문제를 해결합니다.
근적외선 분광학
ASD 시리즈
현장에 휴대 가능한 전범위 UV/Vis/NIR/SWIR 분광복사기 및 분광기
근적외선 분광법은 매우 유연한 형태의 분광 분석이며 공정을 최적화하기 위해 물질을 측정하는 비용 효율적인 솔루션입니다.
ASD 제품군의 가시/근적외선 분석기 및 분광복사기는 물질 식별 및 분석, 광 에너지 측정에 적합한 솔루션입니다. ASD의 휴대용 전범위 솔루션은 다음과 같은 분광법 기술에 적용됩니다.
- Vis-NIR 분광법
- SWIR(단파 적외선) 분광법
- Vis-NIR 분광 측광법
형태학적 유도 라만 분광법(MDRS)
Morphologi 4-ID
성분별 입자 특성을 신속하게 자동으로 분석하는 통합형 단일 플랫폼
형태학적 기반 라만 분광법(MDRS)은 자동 입자 영상과 라만 분광법을 결합합니다. 이 기술을 사용하면 다중성분 샘플에서 개별 성분의 신속하고 자동화된 화학적, 형태학적 특성 분석이 가능합니다.
Morphologi 4-ID는 성분별 입자 특성을 신속하게 자동으로 분석하는 통합형 단일 플랫폼을 제공합니다.
X선 형광 분광학
XRF 분석기
X선 형광 분광법은 X선 시료를 자극한 다음 시료에서 나오는 형광 X선을 측정하여 시료의 원소를 식별하는 데 사용됩니다. 원소는 형광 X선의 에너지 또는 파장을 확인하는 방식으로 식별하며, 농도는 형광 X선의 강도로 계산할 수 있습니다.
X선 분광법에는 에너지 분산 분광법과 파장 분산 분광법의 두 가지 기술이 있습니다. Malvern Panalytical은 시료에 대한 정성적 정보와 정량적 정보를 모두 제공하는 몇 가지 X선 형광 분광법 솔루션을 제공합니다.
펄스 고속 열중성자 활성화(PFTNA)
CNA 시리즈
다양한 산업 공정을 효과적으로 제어하기 위한 온라인 원소 분석기
PFTNA는 분광학 기술을 사용하여 원소 농도를 해석합니다. 이 기술은 빠른 온라인 공정 제어를 위해 다양한 산업에서 점점 더 많이 사용하고 있습니다.
CNA 제품군의 교차 벨트 분석기는 안전하고 강력한 인라인 공정 제어를 위해 매우 대표적인 원소 분석을 실시간으로 제공합니다.