파장 분산 분광법 WDXRF 및 Malvern Panalytical WDXRF 분광기 소개
X선 형광(XRF) 분광법은 다양한 유형의 물질로부터 원소 정보를 얻는 데 사용되는 비파괴 분석 기술입니다.
이 기술은 시멘트 생산, 유리 생산, 채광, 미네랄 선광, 철, 강철 및 비철금속, 석유 및 석유화학 제품, 고분자 및 관련 산업, 의약품, 건강관리 제품 및 환경 등의 여러 산업과 응용분야에 사용됩니다.
분광기 시스템은 일반적으로 파장 분산 시스템(WDXRF)과 에너지 분산 시스템(EDXRF)의 두 가지 주요 그룹으로 나뉩니다. 두 시스템의 차이는 검출 시스템에 있습니다.
모든 분광기의 기본 개념은 방사선원, 검체 및 검출 시스템입니다. WDXRF 분광기에서 광원 역할을 하는 x선관으로부터 샘플에 직접 조사하여 직접 조사하여 샘플에서 나오는 형광을 파장 분산 검출 시스템으로 측정합니다.
각 개별 원소에서 나오는 특징적 방사선은 X선을 파장, 또는 역으로 그 에너지를 기준으로 분리하는 결정을 분석하여 식별할 수 있습니다.
이러한 분석은 서로 다른 파장(순차적) 또는 고정된 위치에서 서로 다른 파장의 X선 강도를 측정하고 동시에 서로 다른 파장의 X 선 강도를 동시에 측정하여 수행할 수 있습니다.
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