行業版本
用於特定行業的訂製解決辦法
行業版本的 Zetium XRF 光譜儀提供專用的專業知識模板與針對特定行業的硬體與軟體配置。這些行業版本專門為了快速訂製與校準而設計，擁有專有的、高品質且可追蹤的應用設定模型，其中包含設定標準品與樣品製備說明。也包含針對典型行業應用與國際法規和規性的訂製應用模板。採用這種方法的行業包括水泥、礦物、金屬、石化產業以及聚合物與塑膠。終極版本配置則會無論行爺如何，滿足最嚴苛的需求。
概述
要素創新
持續開發，提升客戶體驗
經由 SumXcore 技術( WDXRF 和 EDXRF 的集成)實踐符合科學且效益為主的創新並融入至 Zetium 平台中，提供了終端的靈活性、性能與多功能性，有望徹底改變 XRF 的世界。
基本情報
我們著名的 SuperQ 軟體賣出了一大步，提供了新技術的組合與分析的可能性。它以 Virtual Analyst 為主角，提供了用戶設定與操作系統的體驗。
基本支援
無論身在何處，都提供透明且可靠的支援
從服務到專業知識，培訓到實驗室分析，用戶將得到全方位的支援。憑藉經驗豐富的工程師所組的全球網路以及業界最大的應用科學家資料庫， Malvern Panalytical 隨時都可以幫助您滿足您的分析需求。
基本技術
60 年的經驗與傳承——理想的起點
Zetium 是新一代中非常標誌且成功的 WDXRF 光譜儀，包括 Axios、MagiX 和 PW2400 。這種經過驗證的技術遺產已經得到了完善與發展，為 Zetium 平台奠定了強大的基礎。
特點
提高分析效能
- 針對提高靈敏度將功率升級從 1 至 2.4、3、4 kW
- 針對特定應用效能採用了一系列的 X 光館的陰極材料 Rh、Cr、Mo 與 Au
- 雙聯的偵測器可提高過度金屬分析的靈敏度與更寬的動態範圍
- Hi-Per 閃爍偵測器可增加重元素的動態範圍(線性高達 3.5Mcps )，非常適合對鋼鐵中的 Nb 和 Mo 進行高精確度分析
卓越的用戶體驗
- 使用簡單且直觀的 Virtual Analyst 軟體
- 全套應用程序設定模型與軟體解決辦法
- 使用 Omnian 進行領先行業的棉標定 XRF 分析——分析未知物或是不可用的標準品
- 透過繪圖進行多元素的小點分析
- 針對 6mm 至 37mm 樣品尺寸的可編成準直器面罩
最大樣品通量
- SumXcore 技術——使用 ED core 可將測量時間所短多至 50%
- 功率升級從 1 至 2.4、3 或 4 kW以加快分析速度
- Hi-Per 通道可用於同時量測輕元素
- 連續宇直接樣品注入顯著地降低了儀器的開銷
- 針對高通量應用的大容量進樣器床(最多 209 個位置)
- 樣品更換器條形碼讀取器選項可以實現快速、無差錯的樣品注入與數據輸入
可靠性
- 除塵裝置能最大限度地減少汙染並最大限度延長儀器的正常運行時間
- CHI-BLUE X 光館窗口塗層能提高 X 光館的耐用性及抗腐蝕性
- 樣品類型識別(固體和液體)
- 條形碼閱讀器可實現無差錯樣品輸入)
低成本
- 節省空間、精巧型的設計
- 小體積氣閘設計——用於將樣品快速循環至真空中，或用於液體分析的低氦氣校蒿
- 易於處理的服務模型意味著儀器具有更高的可維護性與最短的停機時間
- 專用冷水機去除實驗室的熱量——避免實驗室空調基礎設備負擔過重
- 節省成本的成套解決辦法
配件
標準品 (相關材料)
軟體
服務
選項
系統增強軟體包
Zetium 平台的模組化設計允許直接訂製的配置，甚至可免族最嚴苛的需求
- 以任務為導向的性能增強
- 高樣品通量——增加樣品更換器容量並降低儀器開銷
- 防止粉塵樣品與液體溢出
- 帶條型碼閱讀氣的無差錯樣品輸入
- 可變樣品類型處理，包括小點分析
SumXcore
ED core
Zetium 平台體現了 SumXcore 技術—— WDXRF 和 EDXRF 的集成。這種獨特的可能性組合使其在分析能力、速度與任務靈活性方面獨樹一幟
結合 WD/ED XRD 的優點
- 透過同步 SumXcore 量測實現最大的任務靈活性與增強性能
- 透過將測量時間大幅縮短至多至 50% 或提高精度獲益
- 高解析度 SDD 偵測器具有可變信號衰減，可以實踐最佳的性能靈活性
- Na 至 Am 且濃度範圍為 ppm 至 100% 的元素分析
- 追蹤可能影響過程元素分析的意外元素，無須額外增加測量時間
- 每次測量都會有兩個獨立結果以增強您的 QA/QC 計畫並增強品質的信心
有著 Virtual Analyst 的 SuperQ 6
Virtual Analyst 從許多來源(如標撙品的組成、實際測量與用戶的數據目標)得到資訊，以計算系統的回饋、設定並完善方法
- 發揮 Zetium 平台的最大功能
- 簡單直觀，且以任務為導向的流程
- 先進的矩陣校正調整可提高從金屬製聚合物的數據準確性
- Vitual Analyst —— 為數十年專業知識的體現
通過映射進行小點分析
具有元素分佈圖的小點分析是材料研究與生產過程故障排除的理想工具。這項技術並不局限於研究設備，現在可以在您所需要的任何地方去做使用
- 材料研究與生產過程故障排除的理想選擇
- 縮短分析時間
- 進耦合光路實現高靈敏度
- 使用 ED core 對每個點進行快速、同步的多元素分析
- 500µm 光點尺寸( FWHM )， 100µm 步長
- 定量、定性與免標定 Omnian 分析
- 簡單的樣品製備
