金屬塗佈

金屬塗佈分析解決方案

由於使用多層純金屬或合金來強化產品的部分特性,因此精準判斷塗佈厚度非常重要。金屬塗佈的品質控制需要非破壞性的金屬分析,以及物理特性的詳細分析。X 光螢光 (XRF)、顆粒形狀分析和 X 光繞射 (XRD) 為非破壞性、非接觸式的分析技術,僅需些微樣本製備或不需樣本製備,因此非常適合此應用。 

典型應用包括:

  • 鋼的預處理程序 
  • 用於機械加工鐵基材料的氮化鈦
  • 具備耐高溫氧化能力、可用於壓鑄的碳化鉻
  • 用於塗佈及保護高負載的精密組件、齒輪與驅動器、引擎組件,液壓泵浦與空氣壓縮機的碳化鎢/碳 (WC/C)
  • 導電塗佈,例如用於食品包裝的金屬化塑膠 
Morphologi 系列

Morphologi 系列

為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統

Empyrean

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智慧型 X 光繞射儀

Zetium 金属版

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金属中的新元素

Epsilon 系列

Epsilon 系列

快速準確的在線 (at-line) 與線上 (on-line) 元素分析

技術類型
影像分析
X光繞射(XRD)
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
X光螢光 (XRF)