미세 먼지는 공기 질과 공중 보건에 점점 더 위협이 되고 있습니다. PM2.5 및 PM10 입자로 알려진 작은 미세 먼지(PM)는 특히 치명적입니다. 이 매우 유해한 공기 중 입자는 숨을 통해 호흡기로 흡입될 수 있을 정도로 작습니다. 이러한 영향이 널리 알려짐에 따라 정부와 당국은 미세 먼지 대기 오염에 대한 보다 엄격한 규제를 시행하고 있습니다.
이러한 규제를 효과적으로 유지하려면 당국은 공기 질에 대한 정확한 이해가 필요합니다. 이는 특정 영역 내의 대기 미립자의 농도를 정확하게 측정하고 이러한 불순물의 출처를 파악할 수 있습니다. 고급 원소 분석 기술은 공기 중 입자를 보다 정확하게 프로파일링하여 이 과정에서 중요한 역할을 할 수 있습니다.
X선 형광으로 오염 물질 원인 프로파일링
X선 형광(XRF)은 에어 필터에서 수집된 에어로졸의 원소 분석에 사용되는 비파괴 기술입니다. XRF의 주요 장점은 필터 물질을 용해하지 않고도 분광기에 필터를 직접 로드할 수 있다는 것입니다. 분석 후에도 다른 공기 품질 분석 기법을 사용하여 샘플을 추가로 분석할 수 있습니다.
Epsilon 4 Air Quality Edition은 국제적으로 승인된 테스트 방법인 EPA IO-3.3의 요구 사항에 따라 원소 농도를 분석할 수 있습니다. 이 매우 정확한 미립자 물질 분석 외에도 분광계는 25mm~52mm의 공기 필터도 처리할 수 있습니다.
Epsilon 4에는 EPA IO-3.3 준수 출하 시 교정을 제공하여 설치 당일 정확한 분석이 가능합니다. 10개 시료를 장착할 수 있는 캐러셀이 부족하다면 Malvern Panalytical은 60개 시료를 장착할 수 있는 샘플 체인저를 제공하여 작업자의 개입 없이도 24시간 작업을 수행할 수 있습니다.
