X線結晶方位測定装置 Crystal Orientation 製品

ウェーハとインゴットの迅速かつ正確な方位決定

X線結晶方位測定装置は、ブール、インゴット、パック、ウェーハの用途を念頭に置いて設計されています。Crystal Orientation 製品は、さまざまな環境でシンプルかつ超高速の結晶配向測定を実現します。

完全に自動化されたオンライン分析から迅速な品質チェックまで、マルバーン・パナリティカルのX線結晶方位測定装置が対応します。

サポートされている製品

XRD - OEM

完全に自動化されたインライン方向とインゴット、ブール、パックの処理

測定
Crystal structure determination
技術
X-ray Diffraction (XRD)
XRD - OEM

Wafer XRD 200

高速、高精度、完全装備: ウェハ端部制御のためのソリューション

測定
Crystal structure determination
技術
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 200