X線結晶方位測定装置 Crystal Orientation 製品

ウェーハとインゴットの迅速かつ正確な方位決定

X線結晶方位測定装置は、ブール、インゴット、パック、ウェーハの用途を念頭に置いて設計されています。Crystal Orientation 製品は、さまざまな環境でシンプルかつ超高速の結晶配向測定を実現します。

完全に自動化されたオンライン分析から迅速な品質チェックまで、マルバーン・パナリティカルのX線結晶方位測定装置が対応します。

サポートされている製品

XRD - OEM

完全に自動化されたインライン方向とインゴット、ブール、パックの処理

測定
Crystal structure determination
技術
X-ray Diffraction (XRD)
XRD - OEM

Wafer XRD 200

ウェーハの方位測定と選別のための高速、高精度、完全装備のソリューション

測定
Crystal structure determination
技術
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 200

Wafer XRD 300

統合可能なウェーハ方位ソリューション

測定
Crystal structure determination
技術
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 300

Omega/Theta

超高速結晶方位を実現する完全自動試料水平3軸X線回折装置

測定
Crystal structure determination
技術
X-ray Diffraction (XRD)
Omega/Theta