コンピュータ断層撮影法(CT)

非破壊3D特性評価

コンピュータ断層撮影法(CT)を使用すると、薬剤、薄くスライスされた地質材料や建材のサンプルなどX線を透過する材料サンプルの3D画像を生成できます。 

CT は、固体オブジェクト内の内部特徴を視覚化するための非破壊技術です。オブジェクトの構造を調べることができ、内部特徴や欠陥のサイズ、形状、位置などの情報を提供します。

CTを使用した内部サンプル構造の調査

コンピュータ断層撮影法の背後にある基本原理は、対象のX線写真を所定の角度方向範囲で複数回撮影することです。一連のX線写真はエリアディテクタで撮影され、撮影された写真を用いた体積再構成により3D画像を生成します。 

一般に、ディテクタの視野に全て収まり、回転軸と垂直のあらゆる方向にX線を透過させるサンプルであれば、この技法で画像を生成できます。

X線コンピュータ断層撮影法ソリューション

Empyreanは、X線コンピュータ断層撮影測定もできる唯一のラボ用多目的XRD回折装置です。 

この両立は、当社のPreFIX光学系と高性能ハイブリッドピクセルディテクタによって実現されています。

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

技術
X-ray Imaging
XRD分析
測定タイプ
粒子径
粒子形状
結晶構造の解析
相同定
位相の定量化
汚染物質の検出と分析
エピタキシー分析
界面粗さ
3D構造/画像処理