XRD2DScan

機能

2D回折データおよび散乱データの分析

2D回折データおよび散乱データには膨大な情報が含まれています。XRD2DScanはこの情報を抽出し分析するための包括的で使いやすいツールボックスを提供しています。

結晶相(鉱物)と非晶相(ポリマー)の検出に加え、それらのミクロ構造特性(粒度、優先配向、結晶性、秩序度など)を研究することができ、凹凸の多い試料の極点図を計算し、一連の2Dパターンを使用してピーク強度、2シータ位置、ピーク幅をマッピングすることでサンプルの不均質性を分析することができます。マッピング機能は、ウェルプレートデータセットを便利に表現し、確認するのにも非常に便利なツールです。

2Dデータの処理と補正

2Dデータ分析ツールに加え、XRD2DScanはフラットフィールド補正、バックグラウンド補正、直接ビーム、強い反射(基材などから)のマスキングなど、データの処理と補正に役立ついくつかのオプションを提供しています。また、2D画像の回転やトリミング、データビニングやスムージングの適用による2D画像の品質向上なども可能です。複数のファイルをマージしてピークノイズ比を改善したり、複数のファイルセットの合計表現を得たりすることもできます。得られた2D画像は、XRDML、ASC、PSFまたはBMPファイルとしてエクスポートすることができます。

2Dデータからの1Dスキャンの生成

XRD2DScanはさまざまな2Dデータタイプ(2D XRD、極点図、逆格子空間マップなどのマップ)を可視化でき、さまざまなファイル形式(XRDML、PSF、ASC、TIFなど)を読み取ることができます。また、サードパーティ製の回折装置で測定された2Dファイルを使用することもできます。XRD2DScanでは、さまざまなタイプの1Dスキャンを抽出することもできます。2シータスキャン(赤道)、ガンマスキャン(軸方向)、ラインスキャン(任意の方向)、Psiスキャン(特定の方位角回転角度での試料傾斜角の関数としての極点図強度)、Phiスキャン(特定の試料傾斜角での方位角回転角度の関数としての極点図強度)。一連の2Dファイルについては、Zスキャン(ファイル番号の関数としての積分セクター強度)をプロットすることも可能です。

1Dスキャンは、2D画像全体または画像の一部(セクター)から抽出することができます。XRD2DScanは長方形および角度2Dセクターの定義をサポートしています。これにより、選択したセクターに記録された強度から取得した2シータスキャンをエクスポートできます。これは、テクスチャが強いサンプルや粒子サイズが大きいサンプルに非常に便利です。

1Dスキャン処理用ツールボックスには、バックグラウンド補正、ピーク検出、ピークフィッティングが含まれます。他のプログラム(HighScore、HighScore Plus、EasySAXSなど)を使用したさらなる分析のために、1DスキャンはXRDML、ASC、DAT、2Dintファイルとしてエクスポートすることができます。

その他の便利なツール

また、XRD2DScanは、試料と検出器間の距離較正、パターン中心を決定するための複数のオプション、X線管球のラインフォーカスを使用して測定された2Dデータの正確な統合、必要な装置設定を指定するオプション、極点図の範囲をシミュレートしてテクスチャ実験の設計を簡素化するオプションなど、便利なツールを提供しています。

仕様

現在のバージョン	8.0