2019年5月に行われたウェブセミナー「はじめてのXRF分析【後編】高精度分析に必要な測定条件設定とは」の録画版です。
XRFの装置の構造とそれに基づく測定条件の決定方法について、丁寧にご説明します。
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内容
- 蛍光X線分析の特徴
- 蛍光X線分析法による誤差
- まとめ(蛍光X線装置)
プレゼンター
スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部 山路 ・正田
はじめてセミナーは全6種類あります。
はじめてセミナーシリーズは全6セミナーあります。
その他、粉体流動性についてのセミナーもご覧いただけます。
初めてセミナーシリーズ | 内容 |
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第1回 はじめての粒子計測 | 粒子径の意味や粒子径分布(粒度分布)の見方など、粒子計測の基本中の基本をご説明します。 |
第2回 はじめての形状分析 | 最終製品の性能にも大きく関わる粒子形状。形状を数値化する方法や形状分析によって見えてくることをご紹介します。 |
第3回 はじめての粒子分散 | 液中分散したスラリーの振る舞いは、含まれる粒子の特性に大きな影響を受けます。本ウェブセミナーでは、両者の関係を基礎から応用まで丁寧に説明します。 |
第4回 はじめてのXRD | X線回折の測定原理やX線回折でわかることなど、X線回折の基本をご説明します。 |
第5回 はじめてのXRF・測定前処理(前編) |
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第6回 はじめてのXRF・測定前処理(後編) |
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粉体流動性シリーズ | 内容 |
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第1回粉体流動性の測定 | 粉体とは何か?ということから、最新の粉体流動性の測定法についてご紹介しています。 |
第2回 粉体流動性の測定 | FT4がどのような測定を提供できるか?をご紹介しています。 |