Techniques d'analyse par rayons X utilisant des appareils de fluorescence X et de diffraction des rayons X
Dans de nombreuses applications de production ou de R&D, les rayons X peuvent être utilisés pour caractériser les matériaux et les échantillons. La plage de longueurs d'onde des rayons X (de 0,01 à 10 nm) les rend particulièrement adaptés à l'analyse des structures et des éléments au niveau atomique.
Il existe quelques techniques principales permettant d'utiliser les rayons X pour caractériser votre échantillon.
La diffraction des rayons X (XRD) et la diffusion de rayons X peuvent être utilisées par exemple pour analyser la structure cristalline d'un échantillon (cristallographie aux rayons X) ou pour identifier et quantifier les phases cristallines d'un échantillon (diffraction de poudre aux rayons X/XRPD).
Les diffractomètres à rayons X peuvent également être complétés d'outils et d'accessoires pour visualiser la structure interne d'un objet ou utiliser la diffusion de rayons X pour déterminer les distributions granulométriques des nanoparticules.
La fluorescence X (XRF) est une technique rapide et non destructrice largement utilisée pour déterminer la composition élémentaire d'un matériau nécessitant une préparation minimale de l'échantillon.
Les analyseurs XRF peuvent être utilisés pour diverses applications allant du dépistage d'éléments toxiques dans les marchandises entrantes à l'analyse précise dans les environnements à haut débit critiques pour la production.
Malvern Panalytical propose une gamme d'analyseurs XRF pour relever vos défis.
Les analyses XRD et XRF sont complémentaires et présentent plusieurs similitudes car elles utilisent toutes deux une source de rayons X et un détecteur à rayons X, mais les informations fournies par ces deux techniques sont très différentes.
La XRD fournit des informations sur les phases cristallines présentes dans un échantillon et peut faire la distinction entre différents composés, par exemple différents états d'oxydation (Fe2O3/Fe3O4), ou entre différents polymorphes (hématite contre maghémite, tous deux étant de l'oxyde ferrique Fe2O3).
La XRF fournit des informations sur la composition chimique (élémentaire) d'un échantillon, c'est-à-dire les éléments (Fe, O) présents et les quantités. L'un des principaux avantages de la XRF est qu'elle peut détecter la quantité d'un élément chimique jusqu'à 100 ppb (partie par milliard). La préparation des échantillons pour la XRF est également rapide, facile et sûre par rapport aux autres techniques.
Fort de dizaines d'années d'expérience, Malvern Panalytical est l'un des principaux fournisseurs mondiaux d'équipements d'analyse par rayons X.
Nous proposons une large gamme de solutions allant de systèmes de paillasse faciles à utiliser à des systèmes complets à pleine puissance posés au sol pour les analyses XRF et XRD.
Ces techniques sont complémentaires et les deux types d'équipement sont utilisés dans de nombreux environnements de contrôle de la production pour garantir une assurance qualité optimale.
AerisL'avenir est compact |
EmpyreanLe diffractomètre intelligent |
ZetiumL'excellence élémentaire |
Gamme EpsilonAnalyse élémentaire rapide et précise de et en ligne |
Axios FASTCadence d'analyse élevée |
Epsilon XflowUn aperçu direct de votre processus de production |
|
|---|---|---|---|---|---|---|
| Technologie | ||||||
| Diffraction des rayons X (XRD) | ||||||
| Fluorescence X (XRF) | ||||||
| Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) | ||||||
| Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) | ||||||
