Aeris
Préparez-vous à être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide. Des résultats précis peuvent être prêts en moins de cinq minutes.
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Download nowAu service de la communauté de diffraction des rayons X depuis presque un siècle
La conception des diffractomètres à rayons X de Malvern Panalytical permet d'obtenir des diffractogrammes d'excellente qualité. Leur simplicité d'utilisation et leur flexibilité permettent de passer d'une application à l'autre très rapidement.
Nos diffractomètres sont utilisés dans de nombreux environnements, des universités et instituts de recherche aux laboratoires de contrôle des procédés industriels. Quels que soient vos besoins en diffraction des rayons X (XRD), nous avons l'instrument que vous recherchez. Et vous pourrez compter sur notre réseau de vente et d'après-vente dans le monde entier.
Polyvalents, nos diffractomètres (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD (XL) sont tous équipés de modules PreFIX (modules pré-alignés interchangeables rapidement) qui simplifient le changement de trajet optique. C'est pour cette raison que nous proposons la plupart des applications sur une même plateforme de diffractomètre. Découvrez dans notre centre de connaissances de nombreuses applications XRD passionnantes.
Nos solutions d'orientation des cristaux sont conçues pour les applications de boules, de lingots, de rondelles et de plaquettes.
Notre gamme de solutions d’orientation des cristaux est conçue pour les applications en lingots, plaquettes et cristaux. L'orientation des cristaux est simplifiée dans une gamme d'environnements grâce à nos instruments - de l'analyse en ligne à la recherche sur ordinateur, nous avons ce qu'il vous faut.
AerisL'avenir est compact |
Gamme EmpyreanLa solution polyvalente pour tous vos besoins d'analyse |
Gamme X'Pert³La nouvelle plateforme améliorée X’Pert³ |
Gamme Crystal OrientationOrientation rapide et précise des plaquettes et des lingots |
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| Technologie | ||||
| Diffraction des rayons X (XRD) | ||||
| Type de mesure | ||||
| Forme des particules | ||||
| Taille des particules | ||||
| Détermination de la structure cristalline | ||||
| Identification de phase | ||||
| Quantification de la phase | ||||
| Détection et analyse de contaminants | ||||
| Analyse de l'épitaxie | ||||
| Rugosité de l'interface | ||||
| Imagerie/structure 3D | ||||
| Métrologie des couches minces | ||||
| Contraintes résiduelles | ||||
| Crystal orientation | ||||
| Cleanroom ISO 4 | ||||
| SECS/GEM | ||||