Analyseurs XRF

Spectromètres de fluorescence X pour l'analyse de la composition élémentaire

Les spectromètres de fluorescence X (XRF) sont de puissants instruments analytiques conçus pour révéler la composition élémentaire de divers matériaux. Ces appareils polyvalents jouent un rôle central dans la recherche scientifique, le contrôle qualité et les applications industrielles

Les analyseurs XRF excellent en analyse élémentaire. En mesurant les énergies et les intensités des rayons X émis, ils identifient quels éléments sont présents et dans quelles concentrations. Ces informations sont inestimables dans des domaines comme la géologie, la métallurgie, l'archéologie et les sciences de l'environnement, où la connaissance de la composition élémentaire est cruciale.

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Quelles mesures un analyseur XRF peut-il effectuer ?

Les analyseurs XRF sont des instruments polyvalents réputés pour leur capacité à fournir des analyses élémentaires précises et non destructives. Ces analyseurs sont précieux dans divers domaines pour leur capacité à fournir une large gamme de mesures et d'informations.

Quantification élémentaire

La principale fonction de l'instrumentation XRF est la quantification élémentaire. En exposant un échantillon à des rayons X de haute énergie, un analyseur XRF peut mesurer avec précision la concentration des éléments dans cet échantillon. 

Cette quantification s'étend à travers le tableau périodique, des éléments légers comme le carbone aux métaux lourds comme le plomb et l'uranium. Les instruments XRF aident les chercheurs, les fabricants et les professionnels du contrôle qualité à obtenir des données élémentaires précises.

Analyse non destructive

L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'analyse XRF est sa nature non destructive. Les méthodes d'analyse chimique traditionnelles telles que l'ICP nécessitent souvent la destruction ou la dissolution des échantillons, ce qui les rend inutiles pour d'autres essais ou pour la conservation. 

Les spectromètres XRF vous permettent d'examiner les matériaux sans les altérer ou les endommager. Cela les rend indispensables pour analyser des œuvres d'art, des artefacts historiques ou des échantillons géologiques irremplaçables.

Analyse multi-éléments

Les analyseurs XRF excellent dans l'analyse multi-éléments. Ils peuvent détecter et quantifier simultanément plusieurs éléments au sein d'un même échantillon, offrant une image complète de sa composition. 

Cette capacité est particulièrement avantageuse lorsqu'il s'agit de matériaux complexes, d'alliages ou d'échantillons géologiques avec divers composants élémentaires.

Analyse des matériaux

Les instruments d'analyse XRF ne sont pas limités à un type spécifique de matériau. Ils peuvent analyser une grande variété de types d'échantillons, notamment :

  • Solides: Métaux, alliages, polymères, céramiques, minéraux, et des échantillons géologiques.
  • Liquides: Solutions, boues et même huiles.
  • Poudres: Poudres pharmaceutiques, métaux en poudre, et plus encore.

Cette polyvalence garantit que les machines XRF peuvent être utilisées dans diverses industries, de la fabrication et des produits pharmaceutiques à la géologie et à la science de l'environnement.

Exemples d'éléments mesurés

Les analyseurs XRF peuvent mesurer un large éventail d'éléments, y compris, mais sans s'y limiter :

  • Métaux communs comme le fer, le cuivre et l'aluminium.
  • Métaux précieux tels que l'or, l'argent et le platine.
  • Polluants environnementaux comme le plomb, l'arsenic et le mercure.
  • Éléments des terres rares comme le néodyme et l'europium.

Qu'il s'agisse de caractériser des matériaux, de garantir la qualité des produits ou de mener des recherches scientifiques, les spectromètres XRF sont des outils indispensables pour l'analyse élémentaire dans divers secteurs.

Pourquoi devriez-vous choisir nos instruments XRF?

Par son origine historique, Philips, Malvern Panalytical a été à l'avant-garde de solutions polyvalentes, des tubes à rayons X aux spectromètres de fluorescence X et de produits connexes dédiés à l'analyse élémentaire & de couches minces.

Nos systèmes couvrent un large éventail d'exigences en matière d'analyse, de cadence et d'environnements d'exploitation. Notre gamme s'étend des spectromètres de fluorescence X de paillasse à dispersion d'énergie aux spectromètres de fluorescence X hautes performances à dispersion de longueur d'onde et comprend des produits dédiés à la mesure des semi-conducteurs.

Vos besoins spécifiques d’analyse sont pris en compte grâce à différentes options sur mesure. Pour des solutions d'analyse clé en main, des modules d'application (paramétrage des applications, calibrations et étalons) ou des produits de préparation d'échantillons peuvent être intégrés. Tous les produits Malvern Panalytical sont pris en charge par notre service après-vente.

Dans notre Centre de connaissances, vous trouverez plus d'informations, comme de nombreuses applications XRF réalisables avec nos spectromètres, des formations ou webinaires et toute une panoplie de conseils sur différentes thématiques.

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Type de mesure
Métrologie des couches minces
Analyse élémentaire
Détection et analyse de contaminants
Quantification élémentaire
Identification chimique
Technologie
Fluorescence X (XRF)
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
Plage élémentaire
LLD 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Résolution (Mg-Ka)
Débit d'échantillon
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF