Fonctionne avec Fonctionnalités et avantages
Durable
La conception modulaire du diffractomètre moderne et polyvalent* Aeris facilite les mises à niveau et ajouts optionnels. La disponibilité garantie des produits signifie une tranquillité d'esprit pour l'avenir.
*Environnement contrôlé, réflexion, transmission, incidence rasante, diffraction 2D.
Fonctionnalité plug-and-play simple
Avec Aeris, vous n'avez pas besoin de l'expertise XRD. Son interface intuitive, ses programmes de mesure préchargés et son positionnement facile des échantillons rendent des résultats reproductibles d'excellente qualité accessibles à tous.
Chargement facile et reproductible des échantillons
Les porte-échantillons de précision et le système de chargement externe d'Aeris permettent à tous les utilisateurs de charger correctement les échantillons à chaque fois, et ce pour tout type d'échantillon, des poudres aux solides.
Compatibilité avec les environnements réglementés
Grâce à un accès utilisateur contrôlé et à un logiciel de conformité, Aeris est prêt pour tous les flux de travail réglementés (conformément à la norme 21 CFR Part 11). Plusieurs utilisateurs sont gérés facilement.
Rapide et précis
Avec son goniomètre classique et son ordinateur intégré, les composants haute performance et les supports d'échantillons de précision de l'Aeris fournissent des résultats précis en seulement cinq minutes.
L'avenir est compact
Témoignage
Excellent rapport qualité-prix, rapide et facile d'utilisation, données excellentes : un vrai bijou !
Damian G. Research
Caractéristiques
| Manipulation des échantillons | |
|---|---|
| Chargement de l'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
| Porte-échantillons | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Passage d'échantillons | Grand passeur d'échantillon à 6 positions |
| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation |
| Génération de rayons X | |
| Longueurs d'onde | Cu ou Co |
| Réglage du tube | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Gaine de tube | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)*.
*La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2. |
| Goniomètre | |
| Configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
| Géométrie | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Rayon | 145 mm |
| Plage 2 θ maximale | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Positionnement de l'angle | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Vitesse de balayage | 2,17°/s max |
| Résolution réalisable | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| Linéarité 2 θ | < 0,04° 2 θ |
| Plus petit incrément adressable | 0,001 degré |
| Supports | |
| Tournant | Divers supports tournants |
| Environnement contrôlé | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Échange de supports | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Supports spéciaux | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteurs | |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der |
| Général | |
| Dimensions (H x L x P) | 690 mm x 770 mm x 786 mm / 27 po x 30 po x 31 po |
| Protection contre la poussière | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| Alimentation en eau de refroidissement externe | Inutile |
| Alimentation en air comprimé | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interfaces | LAN, USB, HDMI |
Accessoires
Solutions logicielles
Les instruments et mesures Aeris sont gérés par son logiciel de collecte de données intégré avec des programmes de mesure préchargés. Les utilisateurs peuvent également écrire leurs propres programmes.
Pour la quantification de phase, le contenu amorphe et plus encore, le logiciel RoboRiet intégré peuvent effectuer une analyse automatisée fournissant une visualisation immédiate à l'écran et un transfert vers des bases de données de résultats.
La mesure et l'analyse peuvent également être automatisées via X'Pert Industry. Industry offre une fonction de script unique pour personnaliser les méthodes de quantification basées sur la droite d'étalonnage et la collecte de données pour n'importe quelle application de contrôle de procédé. Le rapport des résultats est entièrement configurable pour les systèmes LIMS également.
Vous pouvez également effectuer vos propres analyses approfondies à l'aide de nos progiciels HighScore Plus ou Stress Plus.
Pour assurer la conformité réglementaire et l'intégrité des données, Omnitrust couvre vos exigences en matière de gestion des utilisateurs et d'audit des données dans un environnement réglementé.
RoboRiet
Une mise en œuvre spéciale d'exécution uniquement de la méthode Rietveld et du profil adapté à la quantification de phase XRD, à la quantification amorphe et plus encore.
Industry
Logiciel pour l'analyse de routine par diffraction des rayons X dans un environnement industriel, allant des systèmes non réglementés aux systèmes entièrement réglementés, et des systèmes contrôlés manuellement aux systèmes entièrement automatisés.
HighScore Plus
Après l'identification de toutes les phases présentes dans votre échantillon, cette suite logicielle tout-en-un continue de prendre en charge votre analyse, de la quantification avec ou sans la méthode Rietveld à l'ajustement de profil et au traitement de figure.
Stress Plus
Le logiciel Stress Plus est dédié à l'analyse par diffraction des rayons X (XRD) de la contrainte résiduelle dans les revêtements polycristallins. Le logiciel effectue une analyse sin²ψ des contraintes résiduelles à l'aide de techniques unidirectionnelles et multidirectionnelles.
Éditions expertise
Aeris facilite la caractérisation et l'analyse de tout échantillon dans les environnements de recherche et industriels. Mais parfois, votre application a besoin d'une solution spécialisée, ou vous avez besoin d'une alternative à un système XRD de paillasse étalonnée et prête à l'emploi.
Pour répondre à ce besoin, des éditions d'Aeris sur mesure et spécifiques à l'industrie sont également disponibles prêtes à l'emploi. Ces versions spécialisées pour l'industrie sont fournies avec des progiciels d'expertise personnalisables, pré-étalonnés pour vos méthodes d'analyse spécifiques ou votre matériau d'échantillonnage. Votre Aeris sera préparé pour la mesure et l'analyse automatisées grâce au logiciel RoboRiet intégré. Toujours prêt !
Trouvez votre édition ci-dessous :
Aeris Édition Research
Aeris Édition Cement
Aeris Édition Minerals
Aeris Édition Metals
Aeris pour les applications pharmaceutiques
Assistance
Services
Solutions pour optimiser votre retour sur investissement
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Assistance
Service à vie
- Assistance téléphonique et à distance
- Maintenance préventive et contrôles
- Contrats de service client flexibles
- Certificat de performances
- Mises à niveau matérielles et logicielles
- Assistance locale et mondiale
Expertise
Ajout de valeur à vos procédés
- Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
- Méthodes analytiques
- Solutions clé en main pour XRD
- Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
- Services de conseils
Formation et éducation
- Formation sur site ou dans nos centres de compétence
- Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
