Applications dans la recherche et la production
Il est essentiel de comprendre la texture. Par exemple, la texture est un paramètre essentiel dans la production des métaux, comme l'acier et l'aluminium, afin de contrôler les propriétés telles que la résistance mécanique (p. ex. dans les inserts d'outils) et la formabilité.
Dans le cadre des sciences minéralogiques et géologiques, la déformation de la Terre est étudiée en mesurant la texture des roches. Analyser la distribution de l'orientation peut aider à comprendre le processus de formation des artefacts.
En ajustant les conditions de croissance des couches minces, les propriétés souhaitées peuvent être optimisées, par exemple pour les matériaux des disques durs ou les fils supraconducteurs.
Un pic dans un diffractogramme représente l'intensité d'une certaine réflexion (hkl) dans une certaine orientation.
En inclinant et en tournant l'échantillon monté sur un diffractomètre, la distribution de l'intensité d'une réflexion sur la sphère d'orientation, une figure de pôle, peut être enregistrée.
Lorsqu'un ensemble de figures de pôle pour des orientations de cristaux indépendantes a été mesuré, la fonction de distribution de l'orientation (ODF) des cristallites peut être calculée.
La solution polyvalente pour tous vos besoins d'analyse
Malvern Panalytical propose un éventail de solutions pour mesurer la texture des rayons X.
Le système Empyrean équipé d'un berceau d'Euler sont des systèmes de diffraction des rayons X idéaux pour les scientifiques spécialistes des matériaux souhaitant mesurer les figures de pôle dans des échantillons de formes et de tailles variées. L'analyse ultérieure des mesures pour l'évaluation, la visualisation et les calculs de la fonction de distribution de l'orientation est effectuée à l'aide du logiciel Texture.
EmpyreanLe diffractomètre intelligent |
X'Pert³ MRDLa nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux |
X'Pert3 MRD (XL)La nouvelle génération de diffractomètres polyvalents pour la recherche en matériaux |
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| Type de mesure | |||
| Analyse de texture | |||
| Technologie | |||
| Diffraction des rayons X (XRD) | |||
