Logiciel Epsilon
Progiciel EDXRF analytique pour systèmes Epsilon. L'analyse XRF quotidienne peut être facilement réalisée par du personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions.
Présentation
- Contrôle de procédé en ligne non destructif – aucun échantillonnage requis
- Gamme de modes de balayage pour s'adapter aux procédés de revêtement en continu et multi-voies
- Facile à intégrer dans les processus de production avec des protocoles de communication standard
- Capable de mesurer tous les éléments précieux d'intérêt, y compris le platine et le cérium
- Capable de mesurer des couches minces avec une excellente précision
- Convient à une gamme de largeurs de rouleaux
- Bras robotisé breveté unique qui permet un contrôle optimal de la distance en faisant passer la tête de mesure au-dessus de la ligne de production dans toutes les directions
Relever les défis de la production de piles à combustible
Les catalyseurs au platine représentant plus de 20 % du coût global de votre pile à combustible, il est essentiel d'optimiser le revêtement du catalyseur grâce à une dispersion uniforme et à une stratification homogène. Et une surveillance rapide et précise des procédés est la solution idéale ! L'Epsilon XLINE facilite le contrôle opérationnel efficace et vous aide à :
- Réduire votre production hors spécifications au minimum
- Éviter le gaspillage de platine précieux
- Produire des produits finis compétitifs
Fonctionnalités
- Automatisation complète en ligne . Profitez d'une production R2R continue grâce aux capacités d'intégration transparente de l'Epsilon Xline, adaptées à une large gamme d'applications de couches minces et de revêtements.
- Simple et sûr . Contrairement aux instruments portables ou traditionnels, l'Epsilon Xline est entièrement compatible avec les rayons X et facile à utiliser, et fournit des données analytiques extrêmement précises.
- Une vie d'expérience . S'appuyant sur l'expérience de plus de 70 ans de Malvern Panalytical en analyse élémentaire , l'Epsilon XLINE a été développé en collaboration avec nos partenaires industriels pour répondre à leurs besoins d'aujourd'hui – tout en regardant ensemble l'avenir de l'industrie.
- Rendement maximisé . Réalisez une production rentable grâce à une surveillance en temps réel et sans interruption, ce qui vous donne les informations directes et le contrôle dont vous avez besoin pour tirer le meilleur parti de vos opérations.
- Efficacité optimale des matériaux . Éliminez les incohérences, évitez le gaspillage de matériaux précieux et garantissez un produit haut de gamme avec notre solution conforme aux normes industrielles.
- Précision prouvée et brevetée . Développé et testé avec des clients, l'Epsilon Xline est doté d'une technologie brevetée de correction de hauteur qui garantit une analyse stable pour des résultats précis.
Technologie éprouvée
Analyse élémentaire au sein de votre procédé
La fluorescence X (XRF) est une technologie d'analyse élémentaire non destructive qui permet une surveillance en ligne pendant les procédés de revêtement des membranes catalytiques – sans avoir à prélever d'échantillons et sans changements chimiques ou physiques.
L'analyse en ligne en temps réel qui en découle permet d'optimiser rapidement un grand nombre de paramètres de procédés et de propriétés de produit.
Des résultats hautement répétables et des mesures précises combinés à une maintenance réduite
La technologie éprouvée et robuste utilisée dans l'Epsilon Xline et dans toute notre série d'instruments Epsilon bénéficie des dernières avancées technologiques en matière d'excitation et de détection. Un trajet optique bien conçu, un large éventail de fonctions d'excitation couvrant les éléments légers et plus lourds et un système de détection SDD haute résolution rapide contribuent à la puissance de l'Epsilon Xline. Ces innovations se traduisent par une répétabilité et une précision accrues des résultats et une maintenance réduite.
Spécification
| Manipulation des échantillons | |
|---|---|
| Type d'échantillon | Ligne de revêtement |
| Types de revêtement | Continu, voies, patchs |
| Vitesse de ligne revêtement continu | Maximum 30 m/min |
| Vitesse de ligne revêtement patch | Maximum 11 m/min |
| Tube à rayons X | |
| Type | Fenêtre latérale, métal-céramique |
| Matériau d'anode | Ag |
| Réglage du tube | Contrôlé par logiciel, tensions applicables 4 - 50 kV, max. 3 mA, puissance du tube max. 15 W |
| Filtres de tube | Six, sélectionnables par logiciel (Cu 300 µm ; Cu 500 µm ; Al 50 µm ; Al 200 µm ; Ti 7 µm ; AG 100 µm |
| Épaisseur de la fenêtre | 50 µm (Be) |
| Détecteur | |
| Type | Détecteur de dérive Si haute résolution SDD10 |
| Fenêtre | 8 µm (Be) |
| Résolution | < 145 eV @ 5,9 keV/1 000 cps
typiquement 135 eV @ 5,9 keV/1 000 cps |
| Normes de sécurité | |
| Rayonnements | < 1 µSv/h à 10 cm de la surface extérieure |
Connectivité intégrée
Intégrez l'Epsilon Xline à vos lignes de production harmonieusement grâce à la connectivité OPC intégrée. Le progiciel dédié inclus facilite la configuration de votre Epsilon Xline pour différents matériaux et modes de mesure. En saisissant les commandes directement dans l'instrument – ou via une console distante – l'interface conviviale affiche une vue d'ensemble des données de suivi complètes.
Logiciel Stratos
Détermination de la composition et de l'épaisseur des revêtements et multicouches, permettant la détermination simultanée de la composition chimique et de l'épaisseur des matériaux stratifiés.
Assistance
Nous sommes là pour vous aider.
Chez Malvern Panalytical, vous n'investissez pas seulement dans un instrument, vous investissez dans des années de service client haut de gamme et une assistance à vie pour l'équipement. Nos techniciens de maintenance et notre réseau mondial de service clients sont toujours en attente avec une gamme de conseils et d'assistance d'experts - alors n'hésitez pas à nous contacter chaque fois que vous avez besoin de nous !
