S'appuyant sur l'expérience et la réussite de la gamme éprouvée de spectromètres de fluorescence X Epsilon 3, l'Epsilon 4 est analyseur multifonctionnel de spectrométrie de fluorescence X de paillasse conçu pour tout secteur d'activité nécessitant une analyse élémentaire du fluor (F) à l'américium (Am) dans les domaines du contrôle de procédés et de la recherche et du développement. Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection à un logiciel éprouvé et une conception intelligente, les performances d'analyse de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol.
Éditions industrielles
Epsilon 4 Industrie minière et minéraux
Epsilon 4 Huiles et carburants
Epsilon 4 Lubrifiants
Epsilon 4 Produits pharmaceutiques et cosmétiques
Epsilon 4 Agroalimentaire et environnement
Epsilon 4 Matériaux de construction
Polymères, plastiques et peintures Epsilon 4
Présentation générale
Epsilon 4 Où vous le souhaitez
En raison de ses faibles besoins en infrastructure, l'Epsilon 4 peut être placé à côté de la ligne de production, à n'importe quelle étape de votre procédé. Ses hautes performances permettent à la plupart des applications d'être exploitées dans les conditions ambiantes, réduisant ainsi les coûts de l'hélium ou d'entretien du système de vide.
Une valeur ajoutée au-delà de l'analyse
Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie conçu pour la gamme d'analyse élémentaire du carbone (C) à l'américium (Am) et la gamme de concentration du niveau inférieur au ppm à 100 % en poids.
Choisissez le logiciel Omnian pour l'analyse sans étalon, utilisez le logiciel FingerPrint pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante ou Stratos pour une analyse rapide, simple et non destructive des revêtements, des couches superficielles et des structures multicouches. Vous pouvez également utiliser le programme Enhanced Data Security (sécurité des données renforcée) qui garantit la conformité à des réglementations telles que la norme FDA 21 CFR Partie 11 ou utilisez Oil-Trace pour la quantification de mélanges de carburants-biocarburants et de lubrifiants neufs et usés.
Adapté à tout type d'échantillon
L'Epsilon 4 permet de gérer différents types d'échantillons tels que les solides, les poudres compactées ou libres, les liquides et les filtres. Il effectue une analyse quantitative non destructive d'éléments, du fluor de carbone (C) à l'américium (Am), à partir de concentrations de 100 % jusqu'à des niveaux inférieurs au ppm, sur des échantillons d'un poids allant de quelques milligrammes à plusieurs kilogrammes.
L'Epsilon 4 est une alternative fiable et robuste aux systèmes classiques d'une grande variété d'industries et d'applications, même lorsque l'analyse d'éléments légers est de la plus haute importance, notamment : la production de ciment, l'exploitation minière, l'enrichissement de minerais, le fer, l'acier et les métaux non ferreux, le criblage et la quantification selon la RoHS, le pétrole et les produits pétroliers, les polymères et les industries associées, la fabrication de verre, la médecine légale, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, l'environnement, les denrées alimentaires et les produits cosmétiques.
Fonctionnalités
Configurations modulables
L'Epsilon 4 est un outil d'analyse extrêmement modulable et disponible dans une version de 10 watts pour l'analyse élémentaire (F - Am) dans divers domaines, de la recherche et du développement au contrôle de procédés. Pour un débit d'échantillon encore plus élevé ou des capacités d'élément léger étendues et dans les environnements plus difficiles, une version de 15 watts est disponible, qui peut même analyser le carbone, l'azote et l'oxygène.
Derniers développements
Les instruments Epsilon 4 associent la dernière technologie en matière d'excitation et de détection à un logiciel d'analyse de pointe. Le tube à rayons X de 15 watts permettant une excitation à intensité élevée (3 mA), associé au dernier détecteur SDD30 et à un trajet optique compact, offre des performances d'analyse de loin supérieures à celles des systèmes EDXRF de 50 watts, voire même des systèmes WDRXF de paillasse. Il permet également en parallèle de réduire la consommation d'énergie.
Sensible et rapide
Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées.
Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.
Réduction de la consommation d'hélium
Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.
Spécifications
Manipulation des échantillons | Tube à rayons X | Détecteur | Logiciels |
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Passeur d'échantillon amovible à 10 positions | Fenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimale | Détecteur au silicium à diffusion (SDD, Silicon Drift Detector), généralement 135 eV à Mn-Kα | Criblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian |
Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces) | Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si) | Taux de comptage maximal de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mort | Analyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint |
Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à air | Tube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CI | Fenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilité | Enhanced Data Security (sécurité des données renforcée) pour les environnements réglementés |
Mode mesure « Gros échantillon » pour l'analyse d'échantillons plus volumineux d'une hauteur maximale de 10 cm |
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Stratos pour échantillons multicouches |
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Calibrage flexible unique pour les métaux d'usure dans des lubrifiants neufs et usés à l'aide d'Oil-Trace |
Accessoires
Étalons (matériaux de référence)
ADPOL
WROXI
LAS
RoHS
TOXEL
MRC
Logiciels
Logiciel Epsilon
La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.
Stratos
Omnian
Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.
Oil-Trace
FingerPrint
Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.
Sécurité renforcée des données
Assistance
Équipements
Solutions pour optimiser votre retour sur investissement
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Assistance
Service à vie
- Assistance téléphonique et à distance
- Maintenance préventive et contrôles
- Contrats de service client flexibles
- Certificat de performances
- Mises à niveau matérielles et logicielles
- Assistance locale et mondiale
Expertise
Ajout de valeur à vos procédés
- Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
- Méthodes analytiques
- Solutions clé en main pour XRD
- Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
- Automatisation des procédés de laboratoire
- Services de conseils
Formation et éducation
- Formation sur site ou dans nos centres de compétence
- Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Services analytiques et matériel d'étalonnage
- Services d'analyses d'experts (XRF)
- Analyse d'oxydes et d'éléments traces
- Matériel d'étalonnage personnalisé