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Find out moreL'analyse élémentaire de matériaux est souvent un paramètre critique en matière de qualité et de sécurité des produits. Par exemple, la composition élémentaire adéquate des matières premières entrant dans la composition d'un four à ciment est essentielle au bon fonctionnement et à l'efficacité maximale de l'installation.
Aspect tout aussi important, la présence d'éléments potentiellement nocifs, tels que le soufre, le sodium, le potassium et le mercure, doit être surveillée de près, car ceux-ci peuvent interférer avec le processus ou nuire à l'environnement.
La technique la mieux adaptée pour réaliser une analyse élémentaire dépend du matériau, de son emplacement et des critères propres à chaque industrie.
De nombreuses techniques d'analyse élémentaire servent à comprendre la composition élémentaire des substances. Elles fournissent des informations précieuses sur la composition chimique des matériaux, aidant les chercheurs et les professionnels du secteur à prendre des décisions éclairées. Qu'il s'agisse d'analyser la pureté des produits pharmaceutiques, d'identifier les contaminants dans les aliments ou de caractériser des échantillons géologiques.
La fluorescence X (XRF) est une technique non destructive qui repose sur l'émission de rayons X caractéristiques lorsqu'un échantillon est exposé à des rayonnements X.
Elle est largement utilisée pour l'analyse élémentaire dans diverses applications, y compris l'identification des alliages, l'exploration minière et le contrôle qualité dans la fabrication.
L'activation thermique/neutronique à pulsations rapides (PFTNA) est une technique spécialisée qui utilise des neutrons thermiques à pulsations rapides pour activer des matériaux.
Elle offre des avantages uniques dans l'analyse des éléments traces et des isotopes dans divers échantillons, y compris les matériaux géologiques, environnementaux et nucléaires.
L'ICP est une source de plasma à haute température qui stimule les atomes et les ions d'un échantillon, permettant une quantification précise des éléments.
Il s'agit d'une technique polyvalente utilisée en analyse environnementale, en géochimie et dans la détermination d'éléments traces dans diverses matrices.
L'AAS mesure l'absorption de la lumière par les atomes libres dans un échantillon. Elle est particulièrement utile pour quantifier les métaux traces dans les échantillons biologiques et environnementaux, ce qui la rend indispensable en chimie analytique.
La NAA consiste à bombarder des échantillons avec des neutrons pour induire des réactions nucléaires. C'est une méthode sensible pour identifier et quantifier les éléments traces dans une large gamme de matériaux, des artefacts archéologiques aux échantillons médico-légaux.
Malvern Panalytical dispose d'une gamme d'analyseurs élémentaires offrant un choix de techniques d'analyse élémentaire. Lorsque des analyses précises avec une préparation minimale d'échantillons est nécessaire, la fluorescence X (XRF) est une technique intéressante à envisager. Cette technique est devenue la « référence » pour l'analyse de la composition élémentaire dans de nombreuses industries.
La fluorescence X est particulièrement adaptée lors de l'analyse de solides, de poudres, de boues, de filtres et d'huiles. Pour l'analyse en ligne de matériaux transportés sur bandes transporteuses, l'activation thermique/neutronique à pulsations rapides (PFTNA) constitue une technique très utile. Les analyses élémentaires en temps réel permettent un contrôle par rétroaction et prédictif, ce qui est essentiel dans de nombreux processus.
Notre gamme complète de solutions élémentaires répond à un large éventail d'applications, garantissant des résultats précis et fiables. Découvrez notre gamme d'instruments d'analyse élémentaire ci-dessous.
ZetiumL'excellence élémentaire |
Gamme EpsilonAnalyse élémentaire rapide et précise de et en ligne |
Axios FASTCadence d'analyse élevée |
2830 ZTSolution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs |
Gamme CNAAnalyseurs élémentaires en ligne pour un contrôle efficace de nombreux procédés industriels |
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Type de mesure | |||||
Métrologie des couches minces | |||||
Détection et analyse de contaminants | |||||
Identification chimique | |||||
Technologie | |||||
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) | |||||
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) | |||||
Activation thermique/neutronique à pulsations rapides | |||||
Plage élémentaire | |||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
Résolution (Mg-Ka) | |||||
Débit d'échantillon |